核素滞留量测量系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922267566.1

申请日：

2019-12-17

公开(公告)号：

CN211955844U

公开(公告)日：

2020-11-17

发明(设计)人：

李多宏周志波牛顺利刘立坤林俊李子威肖刚杨丽芳谭西早纪建臣武朝辉

申请人：

申请人地址：

102401 北京市房山区长阳镇阜盛大街67号院

IPC主分类号：

G01T124

IPC分类号：

G01T700

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人：

刘敏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-17	授权	授权

共 50 条

[1]

核素滞留量测量系统及测量方法 [P].

李多宏 ;

周志波 ;

牛顺利 ;

刘立坤 ;

林俊 ;

李子威 ;

肖刚 ;

杨丽芳 ;

谭西早 ;

纪建臣 ;

武朝辉 .

中国专利 :CN110927772A ,2020-03-27

[2]

核素滞留量测量系统及测量方法 [P].

李多宏 ;

周志波 ;

牛顺利 ;

刘立坤 ;

林俊 ;

李子威 ;

肖刚 ;

杨丽芳 ;

谭西早 ;

纪建臣 ;

武朝辉 .

中国专利 :CN110927772B ,2025-05-30

[3]

物理量测量系统 [P].

松田正誉 ;

高仓裕也 ;

中林裕治 ;

三好麻子 ;

小西良平 ;

佐藤真人 .

日本专利 :CN120858281A ,2025-10-28

[4]

物理量测量系统 [P].

高仓裕也 ;

松田正誉 ;

中林裕治 ;

佐藤真人 ;

小西良平 ;

三好麻子 .

日本专利 :CN120813833A ,2025-10-17

[5]

轴偏置量测量系统 [P].

陈良军 ;

赵岳 ;

庄敏 ;

毛睿甜 ;

李金明 ;

韩子奇 .

中国专利 :CN115507724A ,2022-12-23

[6]

物理量测量系统 [P].

高仓裕也 ;

松田正誉 ;

中林裕治 ;

佐藤真人 ;

小西良平 ;

三好麻子 .

日本专利 :CN120826607A ,2025-10-21

[7]

受光量测量系统 [P].

藤原由利 ;

八田和洋 .

中国专利 :CN108803731A ,2018-11-13

[8]

物理量测量系统 [P].

高仓裕也 ;

松田正誉 ;

中林裕治 ;

佐藤真人 ;

小西良平 ;

三好麻子 .

日本专利 :CN120835990A ,2025-10-24

[9]

物理量测量系统 [P].

高仓裕也 ;

松田正誉 ;

中林裕治 ;

佐藤真人 ;

小西良平 ;

三好麻子 .

日本专利 :CN120835991A ,2025-10-24

[10]

轴偏置量测量系统 [P].

陈良军 ;

赵岳 ;

庄敏 ;

毛睿甜 ;

李金明 ;

韩子奇 .

中国专利 :CN218495981U ,2023-02-17

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