一种高效定制化ICT自动测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922320410.5

申请日：

2019-12-23

公开(公告)号：

CN211826348U

公开(公告)日：

2020-10-30

发明(设计)人：

王卫国刘袆锟刘俊

申请人：

申请人地址：

200000 上海市宝山区富桥路99号-B厂房

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海汇齐专利代理事务所(普通合伙) 31364

代理人：

童强

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-30	授权	授权

共 50 条

[1]

一种ICT自动测试设备 [P].

董志明 ;

赵继伟 ;

石国辉 ;

黄坚 ;

林达辉 .

中国专利 :CN222509532U ,2025-02-18

[2]

一种ICT自动测试夹具 [P].

何伟锋 .

中国专利 :CN208350856U ,2019-01-08

[3]

一种自动测试设备 [P].

聂风 ;

彭献 .

中国专利 :CN211784872U ,2020-10-27

[4]

一种ICT测试设备 [P].

陈修杰 .

中国专利 :CN221465680U ,2024-08-02

[5]

一种ICT自动测试机构 [P].

陈思顺 ;

付艳波 .

中国专利 :CN217443496U ,2022-09-16

[6]

一种ICT自动测试装置 [P].

张晏 ;

张建 .

中国专利 :CN206997111U ,2018-02-13

[7]

一种ICT自动测试装置 [P].

张春 ;

杨健 .

中国专利 :CN208847817U ,2019-05-10

[8]

一种自动测试设备 [P].

王晓兵 .

中国专利 :CN204128568U ,2015-01-28

[9]

一种自动测试设备 [P].

高政洋 ;

王志怀 ;

陈伟才 ;

陈忠云 ;

胡剑华 ;

罗松柏 .

中国专利 :CN211191062U ,2020-08-07

[10]

一种封装芯片自动测试设备 [P].

何秋生 ;

黄峰荣 ;

杨斌 .

中国专利 :CN212483760U ,2021-02-05

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