一种电路自动测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220242973.2

申请日：

2012-05-28

公开(公告)号：

CN202583409U

公开(公告)日：

2012-12-05

发明(设计)人：

高文志洪学毅黄锦云

申请人：

申请人地址：

519015 广东省珠海市吉大南山工业区十二栋一至五层珠海市华晶微电子有限公司

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215

代理人：

李玉平

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-15	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20120528 授权公告日:20121205 终止日期:20170528
2012-12-05	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路自动测试装置 [P].

詹海明 .

中国专利 :CN221174880U ,2024-06-18

[2]

一种集成电路自动测试装置 [P].

宋学治 ;

韩磊 ;

彭金星 .

中国专利 :CN223471119U ,2025-10-24

[3]

一种电路板自动测试装置 [P].

潘自聪 ;

熊文 .

中国专利 :CN210816323U ,2020-06-23

[4]

一种自动测试装置 [P].

范松豪 ;

王斌 ;

陶斯文 ;

董灿 ;

董南鹏 .

中国专利 :CN215575521U ,2022-01-18

[5]

一种路基模量自动测试装置 [P].

徐平 ;

杨露 ;

马宗正 ;

王士龙 ;

赵亚兵 ;

王志强 ;

周国航 ;

王程昊 .

中国专利 :CN215758951U ,2022-02-08

[6]

一种AV线自动测试装置 [P].

杨治国 ;

袁赛花 ;

许波 ;

曾俊 ;

蒋春红 .

中国专利 :CN220479462U ,2024-02-13

[7]

一种倒置坍落度筒排空时间自动测试装置 [P].

郭元强 ;

麻秀星 ;

钟丽娜 ;

方云辉 .

中国专利 :CN209640145U ,2019-11-15

[8]

一种柔性电路板自动测试装置 [P].

吴进城 ;

陈金龙 ;

陈海云 .

中国专利 :CN203025287U ,2013-06-26

[9]

一种便于集成电路自动测试装置 [P].

夏宇 .

中国专利 :CN212845785U ,2021-03-30

[10]

一种传感器自动测试装置 [P].

刘依 ;

李亚林 ;

张伟 .

中国专利 :CN206488887U ,2017-09-12

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