一种集成电路自动测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422832602.5

申请日：

2024-11-20

公开(公告)号：

CN223471119U

公开(公告)日：

2025-10-24

发明(设计)人：

宋学治韩磊彭金星

申请人：

江苏前峰电子有限公司

申请人地址：

213300 江苏省常州市溧阳市社渚镇社渚农场

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

常州德谨衡专利代理事务所(普通合伙) 32780

代理人：

姜傲

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种集成电路自动测试装置 [P].

詹海明 .

中国专利 :CN221174880U ,2024-06-18

[2]

集成电路自动测试装置 [P].

周望标 .

中国专利 :CN203658536U ,2014-06-18

[3]

一种集成电路的自动测试装置 [P].

谢雨 ;

李可成 ;

宋庆营 ;

谢彤 ;

黄子钊 .

中国专利 :CN222753823U ,2025-04-15

[4]

一种集成电路自动测试装置 [P].

林镇邦 .

中国专利 :CN217787181U ,2022-11-11

[5]

一种集成电路自动测试装置 [P].

谢卫国 ;

唐朝任 ;

言旭辉 .

中国专利 :CN221960256U ,2024-11-05

[6]

集成电路自动测试装置 [P].

周望标 .

中国专利 :CN103630827B ,2014-03-12

[7]

一种射频集成电路自动测试装置 [P].

刘路扬 ;

陈波 ;

吕乐 ;

刘净月 .

中国专利 :CN208013366U ,2018-10-26

[8]

一种便于集成电路自动测试装置 [P].

夏宇 .

中国专利 :CN212845785U ,2021-03-30

[9]

一种集成电路自动测试装置 [P].

张玮 ;

刘俊娴 .

中国专利 :CN118393313A ,2024-07-26

[10]

集成电路功能自动测试装置 [P].

肖航 ;

段恋 .

中国专利 :CN110501629A ,2019-11-26

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