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一种集成电路自动测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202310460775.6
申请日：
2023-04-26
公开(公告)号：
CN118393313A
公开(公告)日：
2024-07-26
发明(设计)人：
张玮
刘俊娴
申请人：
张玮
申请人地址：
255100 山东省淄博市淄川区般阳路131号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/04
代理机构：
代理人：
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-08-13 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20230426 |
| 2024-07-26 | 公开 | 公开 |