一种针对集成电路ESD等级测试的自动测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510866066.7
申请日
2025-06-26
公开(公告)号
CN120629883A
公开(公告)日
2025-09-12
发明(设计)人
肖祖普
申请人
福建福顺半导体制造有限公司
申请人地址
350007 福建省福州市仓山区盖山投资区内(高旺村11号)
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R29/12
代理机构
北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264
代理人
田景贤
法律状态
公开
国省代码
福建省 福州市
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共 50 条
[1]
一种集成电路自动测试装置 [P]. 
张玮 ;
刘俊娴 .
中国专利 :CN118393313A ,2024-07-26
[2]
集成电路自动测试装置 [P]. 
周望标 .
中国专利 :CN103630827B ,2014-03-12
[3]
集成电路自动测试装置 [P]. 
周望标 .
中国专利 :CN203658536U ,2014-06-18
[4]
一种集成电路自动测试装置 [P]. 
林镇邦 .
中国专利 :CN217787181U ,2022-11-11
[5]
一种集成电路自动测试装置 [P]. 
谢卫国 ;
唐朝任 ;
言旭辉 .
中国专利 :CN221960256U ,2024-11-05
[6]
一种集成电路自动测试装置 [P]. 
詹海明 .
中国专利 :CN221174880U ,2024-06-18
[7]
集成电路功能自动测试装置 [P]. 
肖航 ;
段恋 .
中国专利 :CN110501629A ,2019-11-26
[8]
一种集成电路自动测试装置 [P]. 
宋学治 ;
韩磊 ;
彭金星 .
中国专利 :CN223471119U ,2025-10-24
[9]
用于测试电子元件或集成电路的烘箱及自动测试装置 [P]. 
白云 .
中国专利 :CN216209670U ,2022-04-05
[10]
集成电路测试座及集成电路测试装置 [P]. 
程振 ;
李志雄 ;
刘旭 ;
王平 ;
燕祖德 .
中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08