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一种针对集成电路ESD等级测试的自动测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510866066.7
申请日
:
2025-06-26
公开(公告)号
:
CN120629883A
公开(公告)日
:
2025-09-12
发明(设计)人
:
肖祖普
申请人
:
福建福顺半导体制造有限公司
申请人地址
:
350007 福建省福州市仓山区盖山投资区内(高旺村11号)
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01R29/12
代理机构
:
北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264
代理人
:
田景贤
法律状态
:
公开
国省代码
:
福建省 福州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-12
公开
公开
2025-09-30
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250626
共 50 条
[1]
一种集成电路自动测试装置
[P].
张玮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
张玮
张玮
张玮
;
刘俊娴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
张玮
张玮
刘俊娴
.
中国专利
:CN118393313A
,2024-07-26
[2]
集成电路自动测试装置
[P].
周望标
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周望标
.
中国专利
:CN103630827B
,2014-03-12
[3]
集成电路自动测试装置
[P].
周望标
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周望标
.
中国专利
:CN203658536U
,2014-06-18
[4]
一种集成电路自动测试装置
[P].
林镇邦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林镇邦
.
中国专利
:CN217787181U
,2022-11-11
[5]
一种集成电路自动测试装置
[P].
谢卫国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安徽吉来特电子有限公司
安徽吉来特电子有限公司
谢卫国
;
唐朝任
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安徽吉来特电子有限公司
安徽吉来特电子有限公司
唐朝任
;
言旭辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安徽吉来特电子有限公司
安徽吉来特电子有限公司
言旭辉
.
中国专利
:CN221960256U
,2024-11-05
[6]
一种集成电路自动测试装置
[P].
詹海明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安徽智芯科技有限公司
安徽智芯科技有限公司
詹海明
.
中国专利
:CN221174880U
,2024-06-18
[7]
集成电路功能自动测试装置
[P].
肖航
论文数:
0
引用数:
0
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0
肖航
;
段恋
论文数:
0
引用数:
0
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0
段恋
.
中国专利
:CN110501629A
,2019-11-26
[8]
一种集成电路自动测试装置
[P].
宋学治
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江苏前峰电子有限公司
江苏前峰电子有限公司
宋学治
;
韩磊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江苏前峰电子有限公司
江苏前峰电子有限公司
韩磊
;
彭金星
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏前峰电子有限公司
江苏前峰电子有限公司
彭金星
.
中国专利
:CN223471119U
,2025-10-24
[9]
用于测试电子元件或集成电路的烘箱及自动测试装置
[P].
白云
论文数:
0
引用数:
0
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0
白云
.
中国专利
:CN216209670U
,2022-04-05
[10]
集成电路测试座及集成电路测试装置
[P].
程振
论文数:
0
引用数:
0
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0
程振
;
李志雄
论文数:
0
引用数:
0
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李志雄
;
刘旭
论文数:
0
引用数:
0
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刘旭
;
王平
论文数:
0
引用数:
0
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王平
;
燕祖德
论文数:
0
引用数:
0
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0
燕祖德
.
中国专利
:CN214375125U
,2021-10-08
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