学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

用于测试电子元件或集成电路的烘箱及自动测试装置

被引：0
申请号：
CN202122579531.9
申请日：
2021-10-26
公开(公告)号：
CN216209670U
公开(公告)日：
2022-04-05
发明(设计)人：
白云
申请人：
申请人地址：
710119 陕西省西安市高新区锦业四路1号紫薇康馨公寓3-2601
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R102 G01R104
代理机构：
重庆青飞知识产权代理有限公司 50283
代理人：
阴知见
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-04-05 授权 授权
共 50 条
[1]
自动测试装置 [P]. 
白云 .
中国专利 :CN113820591A ,2021-12-21
[2]
自动测试装置 [P]. 
白云 .
中国专利 :CN216209671U ,2022-04-05
[3]
一种集成电路电子元件自动测试装置 [P]. 
王芬 ;
冯雪昆 ;
王红强 .
中国专利 :CN118914817A ,2024-11-08
[4]
一种集成电路自动测试装置 [P]. 
张玮 ;
刘俊娴 .
中国专利 :CN118393313A ,2024-07-26
[5]
集成电路自动测试装置 [P]. 
周望标 .
中国专利 :CN103630827B ,2014-03-12
[6]
集成电路自动测试装置 [P]. 
周望标 .
中国专利 :CN203658536U ,2014-06-18
[7]
用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置 [P]. 
李远 ;
盖晓峰 .
中国专利 :CN222996768U ,2025-06-17
[8]
烘箱的挡板装置及自动测试装置 [P]. 
白云 .
中国专利 :CN216209669U ,2022-04-05
[9]
集成电路测试座及集成电路测试装置 [P]. 
程振 ;
李志雄 ;
刘旭 ;
王平 ;
燕祖德 .
中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08
[10]
一种针对集成电路ESD等级测试的自动测试装置 [P]. 
肖祖普 .
中国专利 :CN120629883A ,2025-09-12
12345