高精度检测平面光学元件面形的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710629243.5

申请日：

2017-07-28

公开(公告)号：

CN107462188A

公开(公告)日：

2017-12-12

发明(设计)人：

弥谦张锦刘丙才潘永强赵昊天

申请人：

申请人地址：

710032 陕西省西安市未央区学府中路2号

IPC主分类号：

G01B1130

IPC分类号：

代理机构：

西安新思维专利商标事务所有限公司 61114

代理人：

黄秦芳

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-12-12	公开	公开
2020-03-17	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B 11/30 申请公布日:20171212
2018-01-05	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/30 申请日:20170728

共 50 条

[1]

平面光学元件面形的检测方法 [P].

张敏 ;

唐锋 ;

王向朝 ;

戴凤剑 .

中国专利 :CN102818534A ,2012-12-12

[2]

平面光学元件的面形偏差测量方法 [P].

江晓军 ;

刘正国 .

中国专利 :CN101672631B ,2010-03-17

[3]

大口径平面光学元件的面形检测装置和方法 [P].

范勇 ;

陈念年 ;

张劲峰 ;

杨程 .

中国专利 :CN101476880B ,2009-07-08

[4]

平面光学元件绝对面形检测装置 [P].

刘世杰 ;

白云波 ;

周游 ;

张志刚 ;

吴福林 ;

王圣浩 ;

鲁棋 ;

王微微 ;

邵建达 .

中国专利 :CN107036554A ,2017-08-11

[5]

一种平面光学元件的面形修正方法 [P].

朱元强 ;

叶沈航 ;

程章彬 ;

廖以旺 .

中国专利 :CN112817070B ,2021-05-18

[6]

用于检测大口径平面光学元件面形拼接的装置及检测方法 [P].

田伟 ;

苗二龙 ;

隋永新 .

中国专利 :CN108204789A ,2018-06-26

[7]

高精度光学元件面形检测工装夹具 [P].

田伟 ;

王汝冬 ;

王平 ;

王立朋 ;

隋永新 .

中国专利 :CN102721389A ,2012-10-10

[8]

多姿态大口径平面光学元件面形检测装置和方法 [P].

郑万国 ;

袁晓东 ;

熊召 ;

徐旭 ;

范勇 ;

陈念年 ;

刘长春 ;

叶海仙 ;

曹庭分 ;

易聪之 .

中国专利 :CN103245303A ,2013-08-14

[9]

可动态测量平面光学元件面形的测量装置及方法 [P].

段亚轩 ;

达争尚 ;

郑小霞 ;

董晓娜 ;

王拯洲 ;

张伟刚 ;

孙策 ;

蔺辉 ;

陈晓义 ;

范尧 .

中国专利 :CN112504164A ,2021-03-16

[10]

一种基于子孔径拼接的高精度平面光学元件面型检测方法 [P].

沈正祥 ;

徐旭东 ;

孙晓雁 ;

王晓强 ;

马彬 ;

程鑫彬 ;

王占山 .

中国专利 :CN103217125A ,2013-07-24

← 1 2 3 4 5 →