包括测试控制电路的存储器件

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010661526.X
申请日
2020-07-10
公开(公告)号
CN112951310A
公开(公告)日
2021-06-11
发明(设计)人
周侑泉 赵晧成
申请人
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
G11C2912
IPC分类号
代理机构
北京弘权知识产权代理有限公司 11363
代理人
许伟群;郭放
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
刷新控制电路及包括其的存储器件 [P]. 
朱鲁根 .
中国专利 :CN106710621A ,2017-05-24
[2]
存储体控制电路和包括存储体控制电路的半导体存储器件 [P]. 
李贤圣 .
中国专利 :CN105321548A ,2016-02-10
[3]
刷新控制电路和包括刷新控制电路的半导体存储器件 [P]. 
李荣燮 .
中国专利 :CN103680593A ,2014-03-26
[4]
数据排序控制电路以及包括其的存储器件 [P]. 
高仁成 .
中国专利 :CN113555044A ,2021-10-26
[5]
操作控制电路和包括该操作控制电路的半导体存储器件 [P]. 
郑怡映 ;
李根一 .
韩国专利 :CN110390977B ,2024-01-02
[6]
操作控制电路和包括该操作控制电路的半导体存储器件 [P]. 
郑怡映 ;
李根一 .
中国专利 :CN110390977A ,2019-10-29
[7]
包括损坏检测电路的存储器件以及包括该存储器件的测试系统 [P]. 
金恩智 ;
金完东 ;
文炳模 ;
李光振 .
韩国专利 :CN120183475A ,2025-06-20
[8]
用于存储器件的隔离控制电路和方法 [P]. 
崔钟贤 ;
闵泳善 .
中国专利 :CN1734672A ,2006-02-15
[9]
存储器器件的控制电路 [P]. 
杨秀丽 ;
万和舟 ;
叶沐阳 ;
孔路平 ;
张铭宏 .
中国专利 :CN114255795B ,2025-12-19
[10]
存储器器件的控制电路 [P]. 
万和舟 ;
杨秀丽 ;
李培乐 ;
吴经纬 .
中国专利 :CN114613401A ,2022-06-10