分阶段金属表面缺陷检测方法、系统、介质、设备及应用

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011395512.4
申请日
2020-12-02
公开(公告)号
CN112633327A
公开(公告)日
2021-04-09
发明(设计)人
张建龙 刘池帅 崔梦莹 王斌 李桥 何建辉 郭鑫宇 时国强 方光祖 余鑫城
申请人
申请人地址
710071 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
IPC主分类号
G06K962
IPC分类号
G06N304 G06T700
代理机构
西安长和专利代理有限公司 61227
代理人
李霞
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
轻量化金属表面缺陷检测方法及设备 [P]. 
帖军 ;
马佳婷 ;
孙阳光 ;
郑禄 ;
田莎莎 ;
谢瑾 ;
张慧丽 ;
朱成澳 ;
李双洋 .
中国专利 :CN120953176A ,2025-11-14
[2]
金属表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
高增禄 ;
曾纪光 ;
张涛 ;
夏勇俊 ;
陈龙 .
中国专利 :CN111879789A ,2020-11-03
[3]
金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
熊志红 ;
朱峰 ;
郑思温 .
中国专利 :CN119125301A ,2024-12-13
[4]
金属表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
熊志红 ;
朱峰 ;
郑思温 .
中国专利 :CN119125301B ,2025-01-17
[5]
基于改进YOLOX的金属表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
王季宇 ;
郭颖 ;
鲍正位 ;
黄骏 ;
严舒 ;
朱琳琳 .
中国专利 :CN117635521A ,2024-03-01
[6]
一种金属表面缺陷检测方法、装置及存储介质 [P]. 
胡广华 ;
何文亮 ;
涂千禧 ;
王清辉 ;
焦安强 .
中国专利 :CN115439408B ,2025-07-08
[7]
一种金属表面缺陷检测方法、装置及存储介质 [P]. 
胡广华 ;
何文亮 ;
涂千禧 ;
王清辉 ;
焦安强 .
中国专利 :CN115439408A ,2022-12-06
[8]
金属表面缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P]. 
田亮 ;
杨振宇 ;
秦璐 ;
张征宇 ;
李华 .
中国专利 :CN118446972A ,2024-08-06
[9]
金属表面缺陷检测方法、装置以及存储介质 [P]. 
田亮 ;
杨振宇 ;
秦璐 ;
张征宇 ;
李华 .
中国专利 :CN118446972B ,2024-10-29
[10]
一种金属表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
徐彬瑞 ;
郝宗臣 ;
刘博 ;
刘敏 ;
麦焕晓 ;
张金灿 ;
杨震豪 ;
张立文 .
中国专利 :CN120125515A ,2025-06-10