一种衍射光学元件生成超细线激光三维形貌测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810981701.6

申请日：

2018-08-27

公开(公告)号：

CN109141284A

公开(公告)日：

2019-01-04

发明(设计)人：

杨树明刘涛王通刘强杨轩文蒋庄德

申请人：

申请人地址：

710049 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

代理机构：

西安通大专利代理有限责任公司 61200

代理人：

高博

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20180827
2021-07-16	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B 11/24 申请公布日:20190104
2019-01-04	公开	公开

共 50 条

[1]

一种衍射光学元件生成超细线激光三维形貌的测量方法 [P].

杨树明 ;

刘涛 ;

王通 ;

刘强 ;

蒋庄德 .

中国专利 :CN109211134A ,2019-01-15

[2]

一种基于衍射光学元件的条纹投影三维形貌测量装置 [P].

马锁冬 ;

严祺 ;

沈贤蒙 .

中国专利 :CN215338216U ,2021-12-28

[3]

光学元件激光诱导损伤三维形貌在线测量装置和测量方法 [P].

李杰 ;

巴荣声 ;

周信达 ;

郑垠波 ;

丁磊 ;

徐宏磊 ;

袁静 ;

陈波 ;

柴立群 .

中国专利 :CN108007381A ,2018-05-08

[4]

一种光学三维形貌测量方法 [P].

赵宏 ;

张春伟 .

中国专利 :CN105953749A ,2016-09-21

[5]

使用衍射光学元件实现的激光三维检测装置及其检测方法 [P].

贲宇 ;

尹晓东 ;

田克汉 ;

霍轶杰 .

中国专利 :CN105571521A ,2016-05-11

[6]

衍射光学元件和干涉测量方法 [P].

J.赫茨勒 .

中国专利 :CN104685317A ,2015-06-03

[7]

衍射光学元件和干涉测量方法 [P].

J.赫茨勒 .

中国专利 :CN107816939B ,2018-03-20

[8]

线条三维形貌测量方法及线宽测量方法 [P].

高思田 ;

李伟 ;

王鹤群 ;

施玉书 ;

李琪 ;

李适 .

中国专利 :CN105157557A ,2015-12-16

[9]

一种光学元件激光损伤三维测量装置和测量方法 [P].

蒋志龙 ;

刘诚 ;

王绶玙 ;

孔艳 .

中国专利 :CN115523865B ,2025-07-18

[10]

一种光学元件激光损伤三维测量装置和测量方法 [P].

蒋志龙 ;

刘诚 ;

王绶玙 ;

孔艳 .

中国专利 :CN115523865A ,2022-12-27

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