一种基于自监督学习的缺陷检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110679316.8

申请日：

2021-06-18

公开(公告)号：

CN113362313A

公开(公告)日：

2021-09-07

发明(设计)人：

伍强展华益

申请人：

申请人地址：

610000 四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天府四街199号1栋33层

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G01N2188 G06K946 G06K962 G06N304 G06N308

代理机构：

四川省成都市天策商标专利事务所 51213

代理人：

胡慧东

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-07	公开	公开
2021-09-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210618

共 50 条

[1]

一种基于自监督学习的缺陷检测方法及系统 [P].

伍强 ;

展华益 .

中国专利 :CN113362313B ,2024-03-15

[2]

一种基于自监督学习的缺陷检测方法及系统 [P].

赵利 ;

李超 ;

段京峰 ;

刘毅 ;

卢则兴 .

中国专利 :CN120894664A ,2025-11-04

[3]

基于无监督学习的缺陷检测系统及方法 [P].

钟羽中 ;

张乃雪 ;

朱磊 ;

赵涛 ;

佃松宜 .

中国专利 :CN114155186A ,2022-03-08

[4]

一种基于无监督学习的缺陷检测系统和方法 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117523322A ,2024-02-06

[5]

一种基于无监督学习的缺陷检测系统和方法 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117523322B ,2024-03-15

[6]

基于无监督学习的缺陷检测方法及设备 [P].

曾利宏 ;

李杰明 ;

杨洋 ;

黄涛 ;

吴创廷 .

中国专利 :CN114862838B ,2024-11-26

[7]

基于无监督学习的缺陷检测方法及设备 [P].

曾利宏 ;

李杰明 ;

杨洋 ;

黄涛 ;

吴创廷 .

中国专利 :CN114862838A ,2022-08-05

[8]

一种基于无监督学习的外观缺陷检测方法 [P].

徐信罗 ;

肖高博 ;

骆韬 ;

李晓刚 ;

杨智慧 .

中国专利 :CN119107308A ,2024-12-10

[9]

一种基于无监督学习的MicroLED缺陷检测方法 [P].

周佳 ;

潘彤 ;

郭震撼 ;

曹晖 ;

袁廷翼 ;

王杨杨 ;

夏天 ;

鲍涛 .

中国专利 :CN114511516A ,2022-05-17

[10]

基于无监督学习的道路检测方法及系统 [P].

张培炎 .

中国专利 :CN105975937A ,2016-09-28

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