FPGA器件测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711278335.X

申请日：

2017-12-06

公开(公告)号：

CN108107352A

公开(公告)日：

2018-06-01

发明(设计)人：

罗宏伟王小强罗军唐锐李军求

申请人：

申请人地址：

510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

G01R31317

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

刘艳丽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/3185 申请日:20171206
2018-06-01	公开	公开
2020-05-12	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/3185 变更事项:申请人变更前:中国电子产品可靠性与环境试验研究所变更后:中国电子产品可靠性与环境试验研究所变更事项:地址变更前:510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号变更后:511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
2021-09-24	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/3185 申请公布日:20180601

共 50 条

[1]

FPGA的测试方法及测试系统 [P].

杨涵宇 ;

陈德林 .

中国专利 :CN112433894B ,2021-03-02

[2]

一种FPGA器件测试方法、系统及电子设备 [P].

张晓羽 .

中国专利 :CN111522330A ,2020-08-11

[3]

一种基于ATE的FPGA器件测试系统及方法 [P].

周珊 ;

王金波 ;

孔璐 .

中国专利 :CN104865469A ,2015-08-26

[4]

基于模拟开关电路实现FPGA器件的测试系统及方法 [P].

朱璟辉 ;

陈建光 ;

陈思韬 .

中国专利 :CN106448739A ,2017-02-22

[5]

FPGA器件的数据采样控制方法、系统、FPGA器件及介质 [P].

冯懿 ;

何美岐 ;

吴艺璇 ;

冯雪 ;

颜世威 ;

王佳承 ;

王静雯 ;

丁雪玲 ;

葛立炎 ;

许威海 .

中国专利 :CN118199639A ,2024-06-14

[6]

测试台、测试系统、器件测试方法及测试机 [P].

刘通 ;

张富生 ;

韩业星 ;

杨钱卫 ;

徐冰 .

中国专利 :CN120352755A ,2025-07-22

[7]

基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法 [P].

张金凤 ;

孟庆伟 ;

唐金慧 ;

马成英 ;

杨超 ;

刘玏 .

中国专利 :CN112241388B ,2024-11-12

[8]

基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法 [P].

张金凤 ;

孟庆伟 ;

唐金慧 ;

马成英 ;

杨超 ;

刘玏 .

中国专利 :CN112241388A ,2021-01-19

[9]

测试系统及测试方法 [P].

罗继阳 ;

张培 ;

马长安 .

中国专利 :CN104090185A ,2014-10-08

[10]

器件测试系统及方法 [P].

谷金达 ;

张存峰 ;

樊志勇 ;

张铁龙 ;

镇红军 ;

王丰绪 ;

樊立云 ;

姚振宇 .

中国专利 :CN109856521A ,2019-06-07

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