测试台、测试系统、器件测试方法及测试机

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510532936.7

申请日：

2025-04-25

公开(公告)号：

CN120352755A

公开(公告)日：

2025-07-22

发明(设计)人：

刘通张富生韩业星杨钱卫徐冰

申请人：

上海炬仁半导体有限公司

申请人地址：

201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 G01R31/00

代理机构：

深圳睿臻知识产权代理事务所(普通合伙) 44684

代理人：

张海燕

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-22	公开	公开
2025-08-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250425

共 50 条

[1]

测试机及测试系统 [P].

居宁 ;

张晓彤 .

中国专利 :CN218213317U ,2023-01-03

[2]

测试机、测试系统和测试方法 [P].

居宁 ;

张晓彤 .

中国专利 :CN115421028A ,2022-12-02

[3]

测试机、测试控制装置及方法 [P].

居宁 ;

张晓彤 .

中国专利 :CN115453326B ,2024-06-21

[4]

电机测试台及电机测试系统 [P].

林振 .

中国专利 :CN207133402U ,2018-03-23

[5]

测试机、测试控制装置及方法 [P].

居宁 ;

张晓彤 .

中国专利 :CN115453326A ,2022-12-09

[6]

测试机及测试系统 [P].

许应 ;

谭湘 ;

李洪 ;

王林旺 .

中国专利 :CN217360011U ,2022-09-02

[7]

测试台、测试系统及风电机组的测试方法 [P].

吉银辉 ;

郑国龙 ;

张波 .

中国专利 :CN119958862A ,2025-05-09

[8]

IGBT测试台和测试系统 [P].

张贞飞 ;

魏冬 ;

姜云旦 ;

王延金 ;

赵敏 ;

朱燕霞 .

中国专利 :CN211014533U ,2020-07-14

[9]

测试台架、热平衡管理测试系统及测试方法 [P].

姜诗中 ;

张力仁 ;

郑琴 .

中国专利 :CN120141854A ,2025-06-13

[10]

测试台车及测试系统 [P].

崔俊健 ;

王安民 .

中国专利 :CN110082616B ,2024-09-03

← 1 2 3 4 5 →