测试机及测试系统

被引：0

申请号：

CN202123252153.X

申请日：

2021-12-22

公开(公告)号：

CN217360011U

公开(公告)日：

2022-09-02

发明(设计)人：

许应谭湘李洪王林旺

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园301-1

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

深圳五邻知识产权代理事务所(普通合伙) 44590

代理人：

胡明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-02	授权	授权

共 50 条

[1]

测试机及测试系统 [P].

居宁 ;

张晓彤 .

中国专利 :CN218213317U ,2023-01-03

[2]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[3]

测试机柜及测试系统 [P].

黄瑞柱 ;

莫天照 ;

周婉欣 .

中国专利 :CN119031641A ,2024-11-26

[4]

测试机器人及测试系统 [P].

龚佳乐 ;

刘维君 .

中国专利 :CN218075011U ,2022-12-20

[5]

背板、测试机和测试系统 [P].

居宁 ;

张晓彤 .

中国专利 :CN218213316U ,2023-01-03

[6]

测试机架、测试分机及测试系统 [P].

吴金彬 ;

余东生 ;

尹志明 .

中国专利 :CN214269239U ,2021-09-24

[7]

测试机架、测试分机及测试系统 [P].

吴金彬 ;

余东生 ;

尹志明 .

中国专利 :CN112520379A ,2021-03-19

[8]

测试机架、测试分机及测试系统 [P].

吴金彬 ;

余东生 ;

尹志明 .

中国专利 :CN112520379B ,2025-01-21

[9]

遥控测试机 [P].

胡建平 .

中国专利 :CN204480469U ,2015-07-15

[10]

老化测试机及老化测试系统 [P].

刘超 .

中国专利 :CN207215920U ,2018-04-10

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