厚度测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410593749.1

申请日：

2014-10-29

公开(公告)号：

CN105627881A

公开(公告)日：

2016-06-01

发明(设计)人：

不公告发明人

申请人：

申请人地址：

710065 陕西省西安市高新区高新路86号领先时代广场（B座）第2幢3单元17层31701号房

IPC主分类号：

G01B506

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-18	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B 5/06 申请公布日:20160601
2016-06-01	公开	公开

共 50 条

[1]

厚度测量装置 [P].

武员 .

中国专利 :CN2802440Y ,2006-08-02

[2]

厚度测量装置 [P].

陈建颖 ;

张昱仁 ;

周根德 .

中国专利 :CN114353655B ,2024-07-02

[3]

厚度测量装置 [P].

徐贵亮 ;

韩治平 ;

赵德宽 ;

王凤奇 ;

徐剑宇 .

中国专利 :CN209655945U ,2019-11-19

[4]

厚度测量装置 [P].

张学良 ;

龚太成 ;

高海林 .

中国专利 :CN204388827U ,2015-06-10

[5]

厚度测量装置 [P].

陈建颖 ;

张昱仁 ;

周根德 .

中国专利 :CN114353655A ,2022-04-15

[6]

厚度测量装置、系统及测量方法 [P].

郑宇现 ;

周娜 ;

李俊杰 ;

杨涛 ;

李俊峰 ;

王文武 .

中国专利 :CN111649680A ,2020-09-11

[7]

晶片厚度测量装置 [P].

张强 .

中国专利 :CN207816146U ,2018-09-04

[8]

厚度测量探头及厚度测量装置 [P].

李红涛 ;

俞翔 .

中国专利 :CN207335653U ,2018-05-08

[9]

一种厚度测量装置及厚度测量方法 [P].

马砚忠 ;

鄂家骅 ;

袁明波 ;

余涛 ;

郁健 ;

陈鲁 .

中国专利 :CN120702401A ,2025-09-26

[10]

可调式厚度测量装置 [P].

梁红方 ;

赵树伟 ;

许清波 ;

刘杰 ;

张永会 ;

武晓明 .

中国专利 :CN210321532U ,2020-04-14

← 1 2 3 4 5 →