一种智能卡的测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201721273229.8
申请日
2017-09-29
公开(公告)号
CN207164210U
公开(公告)日
2018-03-30
发明(设计)人
王艳杰 杨立新 白志华 窦志军
申请人
申请人地址
100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
IPC主分类号
G01R31303
IPC分类号
代理机构
北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279
代理人
李晓康;俞佳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种智能卡测试装置 [P]. 
刘瑛 ;
罗鸿耀 ;
吴京都 .
中国专利 :CN218412612U ,2023-01-31
[2]
一种智能卡测试装置 [P]. 
张敏 .
中国专利 :CN220982966U ,2024-05-17
[3]
智能卡的折弯测试装置 [P]. 
黎理明 ;
黎理杰 ;
鲍伟海 .
中国专利 :CN206339475U ,2017-07-18
[4]
智能卡芯片的测试装置 [P]. 
胡峋 ;
艾志强 .
中国专利 :CN221631591U ,2024-08-30
[5]
智能卡测试装置 [P]. 
陈俊宪 ;
谢连滋 ;
孙崇哲 ;
周博生 .
中国专利 :CN103926481A ,2014-07-16
[6]
智能卡测试装置 [P]. 
安晨 ;
王征 .
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[7]
一种智能卡弯曲测试装置 [P]. 
曹素红 ;
高长征 .
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[8]
智能卡掉电保护的测试装置 [P]. 
梁波 ;
孙马秋 ;
程萌 ;
李丛 ;
王胜利 ;
孙超 .
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[9]
智能卡芯片功能测试装置 [P]. 
黄振权 ;
毛双 .
中国专利 :CN206178096U ,2017-05-17
[10]
一种新型智能卡功能测试装置 [P]. 
吴兴祥 .
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