一种智能卡测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322780377.0

申请日：

2023-10-13

公开(公告)号：

CN220982966U

公开(公告)日：

2024-05-17

发明(设计)人：

张敏

申请人：

深圳市鑫卡立方智能科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市坪山区龙田街道龙田社区大窝二路5号A栋卡立方厂房101、201

IPC主分类号：

G01N3/20

IPC分类号：

G01N3/04 G01N3/02

代理机构：

深圳市正德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44548

代理人：

李照禄

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-17	授权	授权

共 50 条

[1]

一种智能卡测试装置 [P].

刘瑛 ;

罗鸿耀 ;

吴京都 .

中国专利 :CN218412612U ,2023-01-31

[2]

智能卡芯片功能测试装置 [P].

黄振权 ;

毛双 .

中国专利 :CN206178096U ,2017-05-17

[3]

智能卡芯片的测试装置 [P].

胡峋 ;

艾志强 .

中国专利 :CN221631591U ,2024-08-30

[4]

智能卡测试装置 [P].

陈俊宪 ;

谢连滋 ;

孙崇哲 ;

周博生 .

中国专利 :CN103926481A ,2014-07-16

[5]

智能卡测试装置 [P].

安晨 ;

王征 .

中国专利 :CN104765677A ,2015-07-08

[6]

一种智能卡弯曲测试装置 [P].

曹素红 ;

高长征 .

中国专利 :CN205580891U ,2016-09-14

[7]

一种智能卡的测试装置 [P].

王艳杰 ;

杨立新 ;

白志华 ;

窦志军 .

中国专利 :CN207164210U ,2018-03-30

[8]

智能卡的折弯测试装置 [P].

黎理明 ;

黎理杰 ;

鲍伟海 .

中国专利 :CN206339475U ,2017-07-18

[9]

一种新型智能卡功能测试装置 [P].

吴兴祥 .

中国专利 :CN213558552U ,2021-06-29

[10]

一种智能卡芯片功耗测试装置 [P].

苏晨 ;

闵闰 ;

刘冬生 ;

邬亮 .

中国专利 :CN214918320U ,2021-11-30

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