微小粒子分析装置及微小粒子分析方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210081015.6
申请日
2012-03-23
公开(公告)号
CN102735656B
公开(公告)日
2012-10-17
发明(设计)人
棚濑广宣 外石满
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G01N2163
IPC分类号
G01N2164
代理机构
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
余刚;吴孟秋
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7601183B2 ,2024-12-17
[2]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6741100B2 ,2020-08-19
[3]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5765022B2 ,2015-08-19
[4]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7380573B2 ,2023-11-15
[5]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5886545B2 ,2016-03-16
[6]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2021517640A ,2021-07-26
[7]
微小粒子分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5841315B2 ,2016-01-13
[8]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2014122873A1 ,2017-01-26
[9]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja] [P]. 
日本专利 :JP6299609B2 ,2018-03-28