微小粒子分析装置、微小粒子分析方法、プログラム及び微小粒子分析システム[ja]

被引:0
申请号
JP20150505379
申请日
2014-02-19
公开(公告)号
JPWO2014141878A1
公开(公告)日
2017-02-16
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N21/64
IPC分类号
G01N15/04
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[2]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2014122873A1 ,2017-01-26
[3]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析システム[ja] [P]. 
日本专利 :JP6299609B2 ,2018-03-28
[4]
微小粒子分析システム及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7028287B2 ,2022-03-02
[5]
微小粒子分析装置及微小粒子分析方法 [P]. 
棚濑广宣 ;
外石满 .
中国专利 :CN102735656B ,2012-10-17
[6]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7601183B2 ,2024-12-17
[7]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6741100B2 ,2020-08-19
[8]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5765022B2 ,2015-08-19
[9]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7380573B2 ,2023-11-15
[10]
微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5886545B2 ,2016-03-16