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将数据和电力发射到存储器子系统以用于存储器装置测试
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011506127.2
申请日
:
2020-12-18
公开(公告)号
:
CN112992262A
公开(公告)日
:
2021-06-18
发明(设计)人
:
G·D·哈默
M·T·布拉迪
W·A·马库斯
L·J·考德莱
申请人
:
申请人地址
:
美国爱达荷州
IPC主分类号
:
G11C2956
IPC分类号
:
G11C2950
代理机构
:
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人
:
王龙
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20201218
2021-06-18
公开
公开
共 50 条
[1]
将数据和电力发射到存储器子系统以用于存储器装置测试
[P].
G·D·哈默
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
G·D·哈默
;
M·T·布拉迪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
M·T·布拉迪
;
W·A·马库斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
W·A·马库斯
;
L·J·考德莱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
L·J·考德莱
.
美国专利
:CN112992262B
,2024-06-04
[2]
存储器子系统、方法和存储器装置
[P].
J·菲兹帕特里克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
J·菲兹帕特里克
;
S·帕塔萨拉蒂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
S·帕塔萨拉蒂
;
P·R·哈亚特
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
P·R·哈亚特
;
A·S·埃侯赛因
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
A·S·埃侯赛因
.
中国专利
:CN113342259A
,2021-09-03
[3]
存储器子系统、方法和存储器装置
[P].
J·菲兹帕特里克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
J·菲兹帕特里克
;
S·帕塔萨拉蒂
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
S·帕塔萨拉蒂
;
P·R·哈亚特
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
P·R·哈亚特
;
A·S·埃侯赛因
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
A·S·埃侯赛因
.
美国专利
:CN113342259B
,2024-08-06
[4]
存储器子系统的电力停用
[P].
M·卡蒂科扬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
M·卡蒂科扬
;
M·帕尔图
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
M·帕尔图
.
中国专利
:CN114600059A
,2022-06-07
[5]
存储器子系统的电力停用
[P].
M·卡蒂科扬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
M·卡蒂科扬
;
M·帕尔图
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
美光科技公司
美光科技公司
M·帕尔图
.
美国专利
:CN114600059B
,2024-04-05
[6]
存储器子系统的电力优化
[P].
何德平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何德平
;
D·A·帕尔默
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
D·A·帕尔默
.
中国专利
:CN114270303B
,2022-04-01
[7]
存储器子系统
[P].
J·鲁宾斯坦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
J·鲁宾斯坦
;
A·鲁亚科斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
A·鲁亚科斯
.
中国专利
:CN102369552A
,2012-03-07
[8]
存储器子系统数据迁移
[P].
罗婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗婷
;
罗贤钢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗贤钢
;
J·黄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
J·黄
;
P·S·阮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
P·S·阮
.
中国专利
:CN115705155A
,2023-02-17
[9]
存储器装置、存储器装置测试方法和测试系统
[P].
陈泓俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
陈泓俊
;
崔原英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
崔原英
;
金充满
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金充满
;
李永锡
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
李永锡
.
韩国专利
:CN118262780A
,2024-06-28
[10]
存储器和存储器测试系统
[P].
王佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王佳
.
中国专利
:CN213459060U
,2021-06-15
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