一种纳米颗粒粒径的测量方法及其测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510824396.6

申请日：

2015-11-24

公开(公告)号：

CN105510192A

公开(公告)日：

2016-04-20

发明(设计)人：

岳成凤唐志列韩鹏彭力吴泳波

申请人：

申请人地址：

510006 广东省广州市广州大学城华南师范大学物理与电信工程学院

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

代理机构：

广州新诺专利商标事务所有限公司 44100

代理人：

吴静芝

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-05-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101660898649 IPC(主分类):G01N 15/02 专利申请号:2015108243966 申请日:20151124
2016-04-20	公开	公开
2019-08-16	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 15/02 申请公布日:20160420

共 50 条

[1]

单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105043948A ,2015-11-11

[2]

单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105115866B ,2015-12-02

[3]

金属纳米颗粒粒径的测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105092433A ,2015-11-25

[4]

单个纳米颗粒粒径的测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105115864A ,2015-12-02

[5]

纳米颗粒粒径测量系统 [P].

黄鹭 ;

高思田 ;

施玉书 ;

李伟 ;

李琪 .

中国专利 :CN110455690A ,2019-11-15

[6]

纳米颗粒粒径测量系统 [P].

黄鹭 ;

高思田 ;

施玉书 ;

李伟 ;

李琪 .

中国专利 :CN108287126A ,2018-07-17

[7]

纳米颗粒粒径测量系统 [P].

黄鹭 ;

高思田 ;

施玉书 ;

李伟 ;

李琪 .

中国专利 :CN110455690B ,2024-06-11

[8]

纳米颗粒粒径测量系统 [P].

黄鹭 ;

高思田 ;

施玉书 ;

李伟 ;

李琪 .

中国专利 :CN210571846U ,2020-05-19

[9]

单个纳米颗粒粒径的测量系统 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105115865B ,2015-12-02

[10]

金属纳米颗粒粒径的测量系统 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 ;

刘祯 .

中国专利 :CN105092432B ,2015-11-25

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