单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510529685.3

申请日：

2015-08-26

公开(公告)号：

CN105043948A

公开(公告)日：

2015-11-11

发明(设计)人：

白本锋肖晓飞

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区北京100084-82信箱

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

代理机构：

深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311

代理人：

娜拉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101636459471 IPC(主分类):G01N 15/02 专利申请号:2015105296853 申请日:20150826
2015-11-11	公开	公开
2017-09-22	授权	授权

共 50 条

[1]

单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105115866B ,2015-12-02

[2]

单个纳米颗粒粒径的测量系统 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105115865B ,2015-12-02

[3]

单个纳米颗粒粒径的测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105115864A ,2015-12-02

[4]

金属纳米颗粒粒径的测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105092433A ,2015-11-25

[5]

一种纳米颗粒粒径的测量方法及其测量系统 [P].

岳成凤 ;

唐志列 ;

韩鹏 ;

彭力 ;

吴泳波 .

中国专利 :CN105510192A ,2016-04-20

[6]

纳米颗粒粒径测量系统 [P].

黄鹭 ;

高思田 ;

施玉书 ;

李伟 ;

李琪 .

中国专利 :CN110455690A ,2019-11-15

[7]

纳米颗粒粒径测量系统 [P].

黄鹭 ;

高思田 ;

施玉书 ;

李伟 ;

李琪 .

中国专利 :CN108287126A ,2018-07-17

[8]

纳米颗粒粒径测量系统 [P].

黄鹭 ;

高思田 ;

施玉书 ;

李伟 ;

李琪 .

中国专利 :CN110455690B ,2024-06-11

[9]

纳米颗粒粒径测量系统 [P].

黄鹭 ;

高思田 ;

施玉书 ;

李伟 ;

李琪 .

中国专利 :CN210571846U ,2020-05-19

[10]

金属纳米颗粒粒径的测量系统 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 ;

刘祯 .

中国专利 :CN105092432B ,2015-11-25

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