接口性能测试方法和装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610150710.1
申请日
2016-03-16
公开(公告)号
CN107203459A
公开(公告)日
2017-09-26
发明(设计)人
汪光宇 杨亚光
申请人
申请人地址
英属开曼群岛大开曼资本大厦一座四层847号邮箱
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人
张大威
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
软件接口测试方法和装置 [P]. 
萧峻妹 .
中国专利 :CN101488085A ,2009-07-22
[2]
接口测试方法、接口测试装置和接口测试系统 [P]. 
蔡旭文 ;
李清 ;
祝君平 ;
刘义 .
中国专利 :CN113190445A ,2021-07-30
[3]
接口测试方法和装置 [P]. 
刘宁 ;
高楚云 ;
方梓浩 ;
周颖 .
中国专利 :CN120234232A ,2025-07-01
[4]
接口测试方法、接口测试装置、服务器和存储介质 [P]. 
康恒 ;
万海燕 .
中国专利 :CN110532175A ,2019-12-03
[5]
性能测试方法和装置 [P]. 
卢荣翠 ;
汤显策 .
中国专利 :CN114527440A ,2022-05-24
[6]
性能测试方法和装置 [P]. 
卢荣翠 ;
汤显策 .
中国专利 :CN114527440B ,2025-07-15
[7]
自动开启基于jmeter实现的接口性能测试方法和系统 [P]. 
史静慧 ;
王晓杰 ;
杨琪翔 ;
李桢 .
中国专利 :CN111427765B ,2020-07-17
[8]
接口性能测试方法及装置 [P]. 
张健 ;
吴海英 ;
王思远 ;
蒋宁 ;
朱国壮 .
中国专利 :CN114816956A ,2022-07-29
[9]
接口性能测试方法、装置和电子设备 [P]. 
孔丽萍 ;
晏高林 ;
吴昊 ;
覃联喜 .
中国专利 :CN113282476B ,2021-08-20
[10]
半导体性能测试方法和测试装置 [P]. 
胡金行 ;
程雪影 ;
刘洋 ;
朱骏 ;
钟敏 .
中国专利 :CN118280865A ,2024-07-02