QFN芯片用高频测试座

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201920355227.6
申请日
2019-03-20
公开(公告)号
CN210015199U
公开(公告)日
2020-02-04
发明(设计)人
钱晓晨 骆兴顺
申请人
申请人地址
215163 江苏省苏州市高新区峨眉山路80号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104 G01R1067
代理机构
南京苏科专利代理有限责任公司 32102
代理人
蒋慧妮
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
QFN芯片用高频测试座 [P]. 
钱晓晨 ;
骆兴顺 .
中国专利 :CN109884507A ,2019-06-14
[2]
一种用于QFN芯片测试座 [P]. 
周勇华 ;
王勇 ;
仇中燕 ;
戴云 ;
陈兰 .
中国专利 :CN223624270U ,2025-12-02
[3]
用于QFN芯片测试座的散热结构 [P]. 
周勇华 ;
王勇 ;
仇中燕 ;
戴云 ;
陈兰 .
中国专利 :CN223503243U ,2025-10-31
[4]
一种具有散热功能的QFN芯片测试座 [P]. 
周勇华 ;
王勇 ;
仇中燕 ;
戴云 ;
陈兰 .
中国专利 :CN223565738U ,2025-11-18
[5]
一种QFN多芯片翻盖测试座 [P]. 
郑勇 ;
邓保建 .
中国专利 :CN220340283U ,2024-01-12
[6]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[7]
手动芯片测试座 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN202471762U ,2012-10-03
[8]
QFN封装射频芯片测试夹具 [P]. 
杨雪 ;
廖强 ;
张强 .
中国专利 :CN217385580U ,2022-09-06
[9]
集成芯片测试座及集成芯片测试模组 [P]. 
蒋伟 ;
段超毅 .
中国专利 :CN206945903U ,2018-01-30
[10]
集成芯片测试座及集成芯片测试模组 [P]. 
段超毅 ;
蒋伟 .
中国专利 :CN206945746U ,2018-01-30