一种高压光谱椭偏测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010470128.X

申请日：

2020-05-28

公开(公告)号：

CN113740269A

公开(公告)日：

2021-12-03

发明(设计)人：

江浩刘佳敏王勐刘世元王一帆谷洪刚

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01N2121

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

李智;孔娜

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-03	公开	公开
2021-12-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/21 申请日:20200528

共 50 条

[1]

光谱椭偏测量方法、系统及存储介质 [P].

韩景珊 ;

王瑜 ;

杨峰 ;

吕彤欣 .

中国专利 :CN116297227B ,2025-08-12

[2]

一种共轴超快光谱椭偏仪及测量方法 [P].

王健 ;

翟福琪 ;

彭立华 ;

卢文龙 ;

徐龙 ;

周莉萍 .

中国专利 :CN113777048A ,2021-12-10

[3]

一种光谱椭偏测量装置及方法 [P].

宗明成 ;

黄有为 ;

徐天伟 ;

马向红 .

中国专利 :CN103486974B ,2014-01-01

[4]

一种椭偏测量系统及测量方法 [P].

陈鲁 ;

马砚忠 ;

杨长英 ;

王南朔 ;

何泊衢 .

中国专利 :CN120176546A ,2025-06-20

[5]

一种椭偏测量系统及测量方法 [P].

马砚忠 ;

杨长英 ;

孙晶露 ;

陈鲁 .

中国专利 :CN120176547A ,2025-06-20

[6]

一种线场色散干涉椭偏测量系统及测量方法 [P].

吴冠豪 ;

张金旭 .

中国专利 :CN118408891A ,2024-07-30

[7]

一种椭偏测量装置及测量方法 [P].

朱宗洋 ;

杨良 ;

尹福钰 .

中国专利 :CN111624159B ,2025-01-28

[8]

一种椭偏测量装置及测量方法 [P].

朱宗洋 ;

杨良 ;

尹福钰 .

中国专利 :CN111624159A ,2020-09-04

[9]

一种光谱椭偏装置和光谱椭偏测量系统 [P].

王瑜 ;

请求不公布姓名 ;

杨峰 ;

吕彤欣 .

中国专利 :CN220649786U ,2024-03-22

[10]

一种磁光椭偏测量装置及测量方法 [P].

连洁 ;

宋平 ;

薛其坤 ;

王晓 ;

李萍 ;

高尚 ;

马峥 ;

吴仕梁 .

中国专利 :CN101865827B ,2010-10-20

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