一种光学元件表面缺陷类型及形状的检测方法及检测系统

被引：0

申请号：

CN202211254039.7

申请日：

2022-10-13

公开(公告)号：

CN115479951A

公开(公告)日：

2022-12-16

发明(设计)人：

张佳瑞李英曾祥飞赵梅

申请人：

申请人地址：

250000 山东省济南市高新区科创路1001号华昱大厦5层503房间

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

青岛高晓专利事务所(普通合伙) 37104

代理人：

步丽丽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20221013
2022-12-16	公开	公开

共 50 条

[1]

表面缺陷检测方法及表面缺陷检测系统 [P].

曹文 ;

龙攀城 ;

丁玲玲 ;

付翱 .

中国专利 :CN115575399A ,2023-01-06

[2]

一种光学元件亚表面缺陷检测方法及检测系统 [P].

刘勇 .

中国专利 :CN104568982B ,2015-04-29

[3]

表面缺陷检测系统、表面缺陷检测方法及表面检测产线 [P].

曹文 ;

龙攀城 ;

丁玲玲 ;

付翱 .

中国专利 :CN115420750A ,2022-12-02

[4]

一种建筑体表面缺陷检测系统及检测方法 [P].

何小林 ;

李平 ;

付浩杰 ;

何小波 ;

吉军强 ;

龚星荣 ;

李强 ;

刘培 ;

贺超 ;

蔡潇贤 .

中国专利 :CN118097436B ,2024-07-12

[5]

一种建筑体表面缺陷检测系统及检测方法 [P].

何小林 ;

李平 ;

付浩杰 ;

何小波 ;

吉军强 ;

龚星荣 ;

李强 ;

刘培 ;

贺超 ;

蔡潇贤 .

中国专利 :CN118097436A ,2024-05-28

[6]

一种光学元件缺陷检测系统及检测方法 [P].

袁志刚 ;

郑楠 ;

李洁 ;

陈贤华 ;

韦前才 ;

周炼 ;

赵世杰 ;

邓文辉 ;

钟波 ;

侯晶 .

中国专利 :CN113686903A ,2021-11-23

[7]

一种光学元件缺陷检测系统及检测方法 [P].

袁志刚 ;

郑楠 ;

李洁 ;

陈贤华 ;

韦前才 ;

周炼 ;

赵世杰 ;

邓文辉 ;

钟波 ;

侯晶 .

中国专利 :CN113686903B ,2024-09-10

[8]

一种表面缺陷检测系统及方法 [P].

王星泽 ;

闫静 .

中国专利 :CN111328370A ,2020-06-23

[9]

表面缺陷检测系统及表面检测产线 [P].

曹文 ;

龙攀城 ;

丁玲玲 ;

付翱 .

中国专利 :CN115436383A ,2022-12-06

[10]

物体表面缺陷检测系统及检测方法 [P].

周波 ;

陈奕舜 ;

范伟华 .

中国专利 :CN110987970A ,2020-04-10

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