一种光学元件亚表面缺陷检测方法及检测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510014502.4

申请日：

2015-01-12

公开(公告)号：

CN104568982B

公开(公告)日：

2015-04-29

发明(设计)人：

刘勇

申请人：

申请人地址：

200090 上海市杨浦区平凉路2103号

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

G01N2125

代理机构：

上海科盛知识产权代理有限公司 31225

代理人：

赵继明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-05-27	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101611388636 IPC(主分类):G01N 21/95 专利申请号:2015100145024 申请日:20150112
2017-05-10	授权	授权
2015-04-29	公开	公开

共 50 条

[1]

一种光学元件亚表面缺陷快速检测装置和检测方法 [P].

周晓燕 ;

刘红婕 ;

黄进 ;

王凤蕊 ;

刘东 ;

孙焕宇 ;

王狮凌 ;

杨李茗 ;

黎维华 .

中国专利 :CN111208064A ,2020-05-29

[2]

一种光学元件亚表面缺陷深度信息的检测装置及检测方法 [P].

田爱玲 ;

邱啸天 ;

张英鸽 ;

王红军 ;

王春阳 ;

刘雪莲 ;

刘丙才 ;

朱学亮 .

中国专利 :CN110686614A ,2020-01-14

[3]

亚表面缺陷检测系统及方法 [P].

廖常锐 ;

汪发美 ;

王义平 .

中国专利 :CN118111994A ,2024-05-31

[4]

光学元件亚表面缺陷的检测装置 [P].

李亚国 ;

雷向阳 ;

郑楠 ;

邓燕 ;

谢瑞清 ;

陈贤华 ;

王健 ;

许乔 .

中国专利 :CN201697882U ,2011-01-05

[5]

光学元件亚表面缺陷的多通道原位检测装置及检测方法 [P].

张霖 ;

许乔 ;

石振东 ;

陈坚 ;

马骅 ;

马可 ;

白金玺 ;

李杰 ;

柴立群 ;

赵建华 ;

黄明 .

中国专利 :CN111060516A ,2020-04-24

[6]

光学元件表面形貌及亚表面缺陷信息的检测方法及其装置 [P].

王红军 ;

吴琳 ;

田爱玲 ;

刘卫国 ;

王大森 ;

朱学亮 ;

刘丙才 .

中国专利 :CN109916909A ,2019-06-21

[7]

一种光学元件亚表面缺陷快速检测装置 [P].

周晓燕 ;

刘红婕 ;

黄进 ;

王凤蕊 ;

刘东 ;

孙焕宇 ;

王狮凌 ;

杨李茗 ;

黎维华 .

中国专利 :CN212059867U ,2020-12-01

[8]

一种光学元件表面缺陷类型及形状的检测方法及检测系统 [P].

张佳瑞 ;

李英 ;

曾祥飞 ;

赵梅 .

中国专利 :CN115479951A ,2022-12-16

[9]

光学元件亚表面缺陷的检测装置及其方法 [P].

李亚国 ;

雷向阳 ;

郑楠 ;

邓燕 ;

谢瑞清 ;

陈贤华 ;

王健 ;

许乔 .

中国专利 :CN101819163A ,2010-09-01

[10]

光学元件亚表面缺陷数字全息检测装置 [P].

于瀛洁 ;

伍小燕 ;

涂桥 ;

王驰 .

中国专利 :CN102519976A ,2012-06-27

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