一种芯片缺陷的检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310506695.6

申请日：

2013-10-23

公开(公告)号：

CN103604814A

公开(公告)日：

2014-02-26

发明(设计)人：

倪棋梁陈宏璘龙吟

申请人：

申请人地址：

201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号

IPC主分类号：

G01N21956

IPC分类号：

代理机构：

上海申新律师事务所 31272

代理人：

竺路玲

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-09-27	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 21/956 申请公布日:20140226
2014-03-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101581017438 IPC(主分类):G01N 21/956 专利申请号:2013105066956 申请日:20131023
2014-02-26	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片缺陷的检测方法 [P].

倪棋梁 ;

陈宏璘 ;

龙吟 .

中国专利 :CN103645197B ,2014-03-19

[2]

一种芯片缺陷检测方法 [P].

倪棋梁 ;

陈宏璘 ;

龙吟 .

中国专利 :CN103346104B ,2013-10-09

[3]

芯片缺陷的检测方法 [P].

何理 ;

许向辉 ;

郭贤权 ;

陈超 .

中国专利 :CN103915361A ,2014-07-09

[4]

一种芯片缺陷视觉检测方法 [P].

吴凡 ;

程镜亮 ;

孟捷 .

中国专利 :CN119515875B ,2025-09-09

[5]

一种芯片缺陷视觉检测方法 [P].

吴凡 ;

程镜亮 ;

孟捷 .

中国专利 :CN119515875A ,2025-02-25

[6]

一种基于芯片缺陷检测的检测方法和系统 [P].

袁敬华 .

中国专利 :CN111553917A ,2020-08-18

[7]

一种芯片缺陷检测方法 [P].

贺晓辉 ;

李迈克 ;

石磊 ;

陈耿 .

中国专利 :CN113299572A ,2021-08-24

[8]

芯片打线检测方法 [P].

文二龙 ;

李丹 ;

闵康 .

中国专利 :CN108709894B ,2018-10-26

[9]

一种芯片缺陷检测方法、设备及介质 [P].

邹巍 ;

吴庆耀 ;

李泽锴 ;

黄生辉 ;

李振伟 ;

林英恒 .

中国专利 :CN120495650A ,2025-08-15

[10]

一种SMT芯片缺陷检测系统与方法 [P].

费胜巍 ;

范晞 .

中国专利 :CN110333238A ,2019-10-15

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