测试电路及电路测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010008115.0
申请日
2020-01-03
公开(公告)号
CN111157881B
公开(公告)日
2020-05-15
发明(设计)人
蒲迪锋
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401
IPC主分类号
G01R31319
IPC分类号
代理机构
北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667
代理人
陈晓瑜
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试电路及电路测试方法 [P]. 
黄宇 ;
崔昌明 ;
黄俊林 ;
付海涛 .
中国专利 :CN115443415A ,2022-12-06
[2]
电路测试系统及电路测试方法 [P]. 
郑文昌 .
中国专利 :CN103592594A ,2014-02-19
[3]
芯片测试电路及电路测试方法 [P]. 
崔昌明 ;
黄俊林 ;
黄宇 ;
付海涛 .
中国专利 :CN115443413B ,2025-05-23
[4]
芯片测试电路及电路测试方法 [P]. 
崔昌明 ;
黄俊林 ;
黄宇 ;
付海涛 .
中国专利 :CN115443413A ,2022-12-06
[5]
测试电路、电路测试方法及装置 [P]. 
王松杰 ;
张永斌 ;
汤一 ;
韩雪飞 ;
王峰伟 ;
张祐齐 ;
廖兴才 ;
刘松 .
中国专利 :CN114839503A ,2022-08-02
[6]
电路测试系统及电路测试方法 [P]. 
陈莹晏 ;
许烱发 ;
杨嘉瑞 ;
陈柏霖 .
中国专利 :CN111443275B ,2020-07-24
[7]
电路测试系统及电路测试方法 [P]. 
陈莹晏 ;
许烱发 ;
杨嘉瑞 ;
陈柏霖 .
中国专利 :CN111443274B ,2020-07-24
[8]
测试电路及基于测试电路的测试方法 [P]. 
张孝 ;
郑东瑾 ;
马卓 ;
窦强 ;
刘超 .
中国专利 :CN119224540A ,2024-12-31
[9]
测试电路及测试方法 [P]. 
孙子程 ;
许冬梅 ;
张雨欣 ;
贾国 ;
李环伟 .
中国专利 :CN120405364A ,2025-08-01
[10]
测试电路及测试方法 [P]. 
王立鹏 .
中国专利 :CN119827934A ,2025-04-15