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测试电路及电路测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010008115.0
申请日
:
2020-01-03
公开(公告)号
:
CN111157881B
公开(公告)日
:
2020-05-15
发明(设计)人
:
蒲迪锋
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401
IPC主分类号
:
G01R31319
IPC分类号
:
代理机构
:
北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667
代理人
:
陈晓瑜
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-06-09
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/319 申请日:20200103
2020-05-15
公开
公开
2022-05-31
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试电路及电路测试方法
[P].
黄宇
论文数:
0
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黄宇
;
崔昌明
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崔昌明
;
黄俊林
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黄俊林
;
付海涛
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付海涛
.
中国专利
:CN115443415A
,2022-12-06
[2]
电路测试系统及电路测试方法
[P].
郑文昌
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0
郑文昌
.
中国专利
:CN103592594A
,2014-02-19
[3]
芯片测试电路及电路测试方法
[P].
崔昌明
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
崔昌明
;
黄俊林
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
黄俊林
;
黄宇
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
黄宇
;
付海涛
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机构:
华为技术有限公司
华为技术有限公司
付海涛
.
中国专利
:CN115443413B
,2025-05-23
[4]
芯片测试电路及电路测试方法
[P].
崔昌明
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崔昌明
;
黄俊林
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黄俊林
;
黄宇
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黄宇
;
付海涛
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付海涛
.
中国专利
:CN115443413A
,2022-12-06
[5]
测试电路、电路测试方法及装置
[P].
王松杰
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王松杰
;
张永斌
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张永斌
;
汤一
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汤一
;
韩雪飞
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韩雪飞
;
王峰伟
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王峰伟
;
张祐齐
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张祐齐
;
廖兴才
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廖兴才
;
刘松
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刘松
.
中国专利
:CN114839503A
,2022-08-02
[6]
电路测试系统及电路测试方法
[P].
陈莹晏
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陈莹晏
;
许烱发
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许烱发
;
杨嘉瑞
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杨嘉瑞
;
陈柏霖
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陈柏霖
.
中国专利
:CN111443275B
,2020-07-24
[7]
电路测试系统及电路测试方法
[P].
陈莹晏
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陈莹晏
;
许烱发
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许烱发
;
杨嘉瑞
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杨嘉瑞
;
陈柏霖
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陈柏霖
.
中国专利
:CN111443274B
,2020-07-24
[8]
测试电路及基于测试电路的测试方法
[P].
张孝
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机构:
飞腾信息技术(深圳)有限公司
飞腾信息技术(深圳)有限公司
张孝
;
郑东瑾
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机构:
飞腾信息技术(深圳)有限公司
飞腾信息技术(深圳)有限公司
郑东瑾
;
马卓
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机构:
飞腾信息技术(深圳)有限公司
飞腾信息技术(深圳)有限公司
马卓
;
窦强
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机构:
飞腾信息技术(深圳)有限公司
飞腾信息技术(深圳)有限公司
窦强
;
刘超
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机构:
飞腾信息技术(深圳)有限公司
飞腾信息技术(深圳)有限公司
刘超
.
中国专利
:CN119224540A
,2024-12-31
[9]
测试电路及测试方法
[P].
孙子程
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机构:
深圳吉华微特电子有限公司
深圳吉华微特电子有限公司
孙子程
;
许冬梅
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机构:
深圳吉华微特电子有限公司
深圳吉华微特电子有限公司
许冬梅
;
张雨欣
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机构:
深圳吉华微特电子有限公司
深圳吉华微特电子有限公司
张雨欣
;
贾国
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机构:
深圳吉华微特电子有限公司
深圳吉华微特电子有限公司
贾国
;
李环伟
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机构:
深圳吉华微特电子有限公司
深圳吉华微特电子有限公司
李环伟
.
中国专利
:CN120405364A
,2025-08-01
[10]
测试电路及测试方法
[P].
王立鹏
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机构:
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
王立鹏
.
中国专利
:CN119827934A
,2025-04-15
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