一种用于测量深低温强磁场下样品表面态的反射式谐振腔

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201310469893.X
申请日
2013-10-10
公开(公告)号
CN103500870A
公开(公告)日
2014-01-08
发明(设计)人
俞国林 吕蒙 徐勇刚 常志刚 刘新智 林铁 孙雷 褚君浩
申请人
申请人地址
200083 上海市虹口区玉田路500号
IPC主分类号
H01P706
IPC分类号
G01N2200
代理机构
上海新天专利代理有限公司 31213
代理人
郭英
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
用于测量深低温强磁场下样品表面态的反射式谐振腔 [P]. 
俞国林 ;
吕蒙 ;
徐勇刚 ;
常志刚 ;
刘新智 ;
林铁 ;
孙雷 ;
褚君浩 .
中国专利 :CN203536550U ,2014-04-09
[2]
用于测量深低温强磁场下样品表面态的吸收式谐振腔 [P]. 
吕蒙 ;
俞国林 ;
徐勇刚 ;
常志刚 ;
刘新智 ;
林铁 ;
孙雷 ;
褚君浩 .
中国专利 :CN203536549U ,2014-04-09
[3]
一种用于测量深低温强磁场下样品表面态的吸收式谐振腔 [P]. 
吕蒙 ;
俞国林 ;
徐勇刚 ;
常志刚 ;
刘新智 ;
林铁 ;
孙雷 ;
褚君浩 .
中国专利 :CN103500869B ,2014-01-08
[4]
用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统 [P]. 
吕蒙 ;
俞国林 ;
林铁 ;
褚君浩 .
中国专利 :CN205808932U ,2016-12-14
[5]
一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统 [P]. 
吕蒙 ;
俞国林 ;
林铁 ;
褚君浩 .
中国专利 :CN105911029B ,2016-08-31
[6]
一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统 [P]. 
吕蒙 ;
俞国林 ;
林铁 ;
褚君浩 .
中国专利 :CN105510282A ,2016-04-20
[7]
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宋国荣 ;
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何存富 ;
吴斌 .
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[9]
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张鹏程 ;
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[10]
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陈侃 ;
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