一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610406776.2

申请日：

2016-06-12

公开(公告)号：

CN105911029B

公开(公告)日：

2016-08-31

发明(设计)人：

吕蒙俞国林林铁褚君浩

申请人：

申请人地址：

200083 上海市虹口区玉田路500号

IPC主分类号：

G01N2163

IPC分类号：

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：

郭英

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-09-28	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101680688149 IPC(主分类):G01N 21/63 专利申请号:2016104067762 申请日:20160612
2018-10-19	授权	授权
2016-08-31	公开	公开

共 50 条

[1]

用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统 [P].

吕蒙 ;

俞国林 ;

林铁 ;

褚君浩 .

中国专利 :CN205808932U ,2016-12-14

[2]

一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统 [P].

吕蒙 ;

俞国林 ;

林铁 ;

褚君浩 .

中国专利 :CN105510282A ,2016-04-20

[3]

用于测量深低温强磁场下样品表面态的吸收式谐振腔 [P].

吕蒙 ;

俞国林 ;

徐勇刚 ;

常志刚 ;

刘新智 ;

林铁 ;

孙雷 ;

褚君浩 .

中国专利 :CN203536549U ,2014-04-09

[4]

一种用于测量深低温强磁场下样品表面态的吸收式谐振腔 [P].

吕蒙 ;

俞国林 ;

徐勇刚 ;

常志刚 ;

刘新智 ;

林铁 ;

孙雷 ;

褚君浩 .

中国专利 :CN103500869B ,2014-01-08

[5]

用于测量深低温强磁场下样品表面态的反射式谐振腔 [P].

俞国林 ;

吕蒙 ;

徐勇刚 ;

常志刚 ;

刘新智 ;

林铁 ;

孙雷 ;

褚君浩 .

中国专利 :CN203536550U ,2014-04-09

[6]

一种用于测量深低温强磁场下样品表面态的反射式谐振腔 [P].

俞国林 ;

吕蒙 ;

徐勇刚 ;

常志刚 ;

刘新智 ;

林铁 ;

孙雷 ;

褚君浩 .

中国专利 :CN103500870A ,2014-01-08

[7]

一种用于磁场下测量的样品载台及用法 [P].

卫荣汉 ;

许雁雅 .

中国专利 :CN113791371A ,2021-12-14

[8]

一种用于磁场下测量的样品载台及用法 [P].

卫荣汉 ;

许雁雅 .

中国专利 :CN113791371B ,2025-02-11

[9]

一种强磁场下磁致伸缩材料的微观原位测量系统 [P].

祁玉超 ;

张文伟 ;

张明吉 ;

彭程远 ;

李晓龙 .

中国专利 :CN114002627A ,2022-02-01

[10]

一种强磁场下的磁屏蔽装置 [P].

公冶晓庆 ;

盛志高 ;

丁伟 ;

黄鹏程 ;

赵航 .

中国专利 :CN220491681U ,2024-02-13

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