一种用于磁场下测量的样品载台及用法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110800476.3

申请日：

2021-07-15

公开(公告)号：

CN113791371B

公开(公告)日：

2025-02-11

发明(设计)人：

卫荣汉许雁雅

申请人：

郑州联辉智能科技有限公司

申请人地址：

450001 河南省郑州市高新区长椿路11号河南省国家大学科技园西区1号孵化楼811号

IPC主分类号：

G01R33/12

IPC分类号：

代理机构：

郑州亦鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 41188

代理人：

张夏谦

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-11	授权	授权
2025-01-24	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移IPC(主分类):G01R 33/12登记生效日:20250107变更事项:申请人变更前权利人:苏州芯兴科技有限公司变更后权利人:郑州联辉智能科技有限公司变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区金鸡湖大道88号人工智能产业园G4-202-003单元变更后权利人:450001 河南省郑州市高新区长椿路11号河南省国家大学科技园西区1号孵化楼811号

共 50 条

[1]

一种用于磁场下测量的样品载台及用法 [P].

卫荣汉 ;

许雁雅 .

中国专利 :CN113791371A ,2021-12-14

[2]

一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统 [P].

吕蒙 ;

俞国林 ;

林铁 ;

褚君浩 .

中国专利 :CN105911029B ,2016-08-31

[3]

用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统 [P].

吕蒙 ;

俞国林 ;

林铁 ;

褚君浩 .

中国专利 :CN205808932U ,2016-12-14

[4]

一种用于测量深低温强磁场下样品光致发光的系统 [P].

吕蒙 ;

俞国林 ;

林铁 ;

褚君浩 .

中国专利 :CN105510282A ,2016-04-20

[5]

一种脉冲强磁场下的电容测量装置及测量方法 [P].

韩小涛 ;

李卓恒 ;

王俊峰 ;

杨明 ;

张绍哲 ;

董超 .

中国专利 :CN117907692A ,2024-04-19

[6]

一种脉冲强磁场下的电容测量装置及测量方法 [P].

韩小涛 ;

李卓恒 ;

王俊峰 ;

杨明 ;

张绍哲 ;

董超 .

中国专利 :CN117907692B ,2024-08-20

[7]

用于测量背景磁场下超导带材临界电流的装置 [P].

戴少涛 ;

袁颂桢 ;

马韬 ;

程志方 ;

李力 .

中国专利 :CN118033509A ,2024-05-14

[8]

一种用于磁场效应测量的非磁性样品腔 [P].

马东阁 ;

乔现锋 ;

代岩峰 .

中国专利 :CN112362581B ,2021-02-12

[9]

一种应用Auger分析设备的样品载台 [P].

叶文博 ;

谢子建 ;

陈弘仁 .

中国专利 :CN216731728U ,2022-06-14

[10]

一种适用于变温、变磁场下的超声共振谱测量装置 [P].

罗永康 ;

周斌杰 ;

潘宇鹏 .

中国专利 :CN115047077A ,2022-09-13

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