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一种用于测试光路与成像光路同轴的光路系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201420103737.1
申请日：
2014-03-10
公开(公告)号：
CN203732475U
公开(公告)日：
2014-07-23
发明(设计)人：
刘召贵
牟仲财
吴升海
申请人：
申请人地址：
215347 江苏省苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号天瑞产业园
IPC主分类号：
G01N23223
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
避免重复授权放弃专利权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2017-05-17 | 避免重复授权放弃专利权 | 避免重复授予专利权 号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101751363029 IPC(主分类):G01N 23/223 专利号:ZL2014201037371 申请日:20140310 授权公告日:20140723 放弃生效日:20170517 |
| 2014-07-23 | 授权 | 授权 |