基于白光扫描干涉的镀膜器件三维形貌测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610668555.2
申请日
2016-08-15
公开(公告)号
CN106123805A
公开(公告)日
2016-11-16
发明(设计)人
吕晓旭 蔡红志 周云飞 刘胜德 钟丽云
申请人
申请人地址
510631 广东省广州市天河区中山大道西55号
IPC主分类号
G01B1124
IPC分类号
代理机构
深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙) 44351
代理人
韩绍君
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于白光扫描干涉的三维形貌解调方法 [P]. 
桑梅 ;
杜翔宇 ;
王双 ;
董洁 ;
禹敏慧 ;
刘铁根 .
中国专利 :CN111339844A ,2020-06-26
[2]
基于白光干涉的嵌入式三维形貌测量模块 [P]. 
陆寅 ;
侯睿媛 ;
顾天成 ;
张帅楠 ;
李航宇 ;
刘仁明 ;
雷枫 ;
陈贵宾 ;
安凤平 ;
马鹏程 ;
陈勇 ;
何广明 .
中国专利 :CN110285771A ,2019-09-27
[3]
基于扫描电镜的纳米尺度三维形貌测量方法 [P]. 
史玉升 ;
李中伟 ;
王从军 ;
钟凯 ;
周钢 ;
朱晓鹏 ;
湛承诚 .
中国专利 :CN102155909A ,2011-08-17
[4]
三维形貌测量光纤干涉投射条纹的相位稳定度测量方法 [P]. 
段发阶 ;
伯恩 ;
吕昌荣 ;
冯帆 ;
傅骁 ;
梁春疆 .
中国专利 :CN103983210A ,2014-08-13
[5]
基于条纹标定的三维形貌测量方法 [P]. 
孙晨 ;
王云舒 ;
丁天皓 ;
陈巨兵 ;
马少鹏 .
中国专利 :CN113091646A ,2021-07-09
[6]
一种基于数字全息扫描的三维形貌测量装置及测量方法 [P]. 
姚震 ;
吴易明 ;
樊鹏格 ;
朱帆 ;
尹逊龙 .
中国专利 :CN106643550B ,2017-05-10
[7]
三维形貌的测量方法及测量装置 [P]. 
黄鑫 .
中国专利 :CN112212815B ,2025-04-04
[8]
三维形貌的测量方法及测量装置 [P]. 
黄鑫 .
中国专利 :CN112212815A ,2021-01-12
[9]
一种用于表面三维形貌测量的白光干涉系统 [P]. 
李豪伟 ;
李慧鹏 ;
宋凝芳 ;
张春熹 .
中国专利 :CN110307805A ,2019-10-08
[10]
岩石表面三维形貌的测量方法 [P]. 
夏才初 ;
王伟 ;
丁增志 ;
汤渊 ;
刘远明 ;
顾翠莲 ;
汪谋 ;
曹诗定 .
中国专利 :CN101033950A ,2007-09-12