表面等离子体共振成像金膜点微阵列的制备方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810050885.0

申请日：

2008-06-26

公开(公告)号：

CN101315330B

公开(公告)日：

2008-12-03

发明(设计)人：

董绍俊王建龙

申请人：

申请人地址：

130022 吉林省长春市人民大街5625号

IPC主分类号：

G01N2155

IPC分类号：

G01N2141

代理机构：

长春科宇专利代理有限责任公司 22001

代理人：

马守忠

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-12-08	授权	授权
2008-12-03	公开	公开
2013-10-23	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101668054942 IPC(主分类):G01N 21/55 专利号:ZL2008100508850 变更事项:专利权人变更前权利人:中国科学院长春应用化学研究所变更后权利人:常州储能材料与器件研究院变更事项:地址变更前权利人:130022 吉林省长春市人民大街5625号变更后权利人:213000 江苏省常州市河海东路9号登记生效日:20130926
2009-01-28	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

表面等离子体共振响应基片的湿化学制备方法 [P].

金永东 ;

董绍俊 .

中国专利 :CN1306099A ,2001-08-01

[2]

蛋白质微阵列表面等离子体共振成像检测系统及检测方法 [P].

余兴龙 ;

王鼎新 ;

魏星 ;

王东生 ;

欧阳溅华 ;

赵新生 .

中国专利 :CN1195230C ,2003-12-10

[3]

表面等离子体共振成像检测装置 [P].

王丽红 ;

汪之又 ;

刘鸿 ;

朱劲松 .

中国专利 :CN103728272B ,2014-04-16

[4]

表面等离子体共振图像分析金膜点阵列的制备方法 [P].

董绍俊 ;

邵勇 .

中国专利 :CN1258122C ,2004-12-22

[5]

一种表面等离子体共振成像纳米结构阵列芯片的制备方法 [P].

杨欢 ;

李飞 ;

罗先刚 ;

杜春雷 .

中国专利 :CN101339128A ,2009-01-07

[6]

薄化表面等离子体共振金膜的方法 [P].

董绍俊 ;

王建龙 .

中国专利 :CN1686651A ,2005-10-26

[7]

表面等离子体共振成像检测装置及其光源 [P].

王丽红 ;

汪之又 ;

刘鸿 ;

朱劲松 .

中国专利 :CN103728271B ,2014-04-16

[8]

基于表面等离子体共振成像的流量检测装置 [P].

邓士杰 ;

毕研刚 .

中国专利 :CN118533247A ,2024-08-23

[9]

一种表面等离子体共振成像装置及方法 [P].

邵永红 ;

王雪亮 ;

曾佑君 ;

屈军乐 .

中国专利 :CN109297935B ,2019-02-01

[10]

一种表面等离子体共振成像传感系统 [P].

顾大勇 ;

邵永红 ;

刘春晓 ;

史蕾 ;

赵纯中 ;

杨燕秋 ;

徐云庆 ;

李政良 ;

黄彤文 ;

李震 ;

李长春 ;

滕娟 ;

季明辉 ;

张威 ;

庄卫东 .

中国专利 :CN101865840A ,2010-10-20

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