真空环境下构件热变形测量系统及其测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810075918.7

申请日：

2008-06-27

公开(公告)号：

CN105122968B

公开(公告)日：

2013-01-02

发明(设计)人：

顾志悦张红英蓝增瑞

申请人：

申请人地址：

200240 上海市闵行华宁路251号

IPC主分类号：

G01B716

IPC分类号：

G01N2500

代理机构：

上海航天局专利中心 31107

代理人：

金家山

法律状态：

保密专利的解密

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-12-02	保密专利的解密	保密专利的解密专利号:2008100759187 申请日:20080627 IPC(主分类):G01B 7/16
2013-01-02	保密专利专利权授予	保密专利专利权授予专利号:2008100759187 申请日:20080627 IPC(主分类):无

共 50 条

[1]

真空低温环境下的热变形测量方法 [P].

蒋山平 ;

杨林华 ;

张博伦 ;

张鹏嵩 ;

王丹艺 ;

向艳红 ;

李竑松 .

中国专利 :CN106091966B ,2016-11-09

[2]

真空低温环境下的天线变形摄影测量系统 [P].

杨林华 ;

蒋山平 ;

于江 ;

向艳红 ;

李竑松 ;

丁文静 .

中国专利 :CN201819671U ,2011-05-04

[3]

一种热真空环境下的天线面阵热变形非接触测量系统 [P].

李钰 ;

艾卓 ;

张世一 ;

王根源 ;

刘瑞芳 ;

孙永雪 .

中国专利 :CN107941161A ,2018-04-20

[4]

位移测量系统及其测量方法 [P].

江晓军 ;

刘正国 ;

汪志锋 .

中国专利 :CN101545767A ,2009-09-30

[5]

空间环境下二维高精度转台及其真空低温下变形测量方法 [P].

刘瑞芳 ;

李钰 ;

马蕾 ;

艾卓 ;

陈丽 ;

沈超 .

中国专利 :CN113884018A ,2022-01-04

[6]

环境测量系统和环境测量方法 [P].

坪田浩和 ;

山本训稔 ;

梶山肇 ;

涩泽俊彦 ;

丸尾雅俊 ;

樱井康晴 ;

宫崎真理子 ;

藤本英基 ;

绪方尚也 ;

小林徹也 .

中国专利 :CN108574944B ,2018-09-25

[7]

基于三坐标机的高低温环境下构件变形测量系统及方法 [P].

唐小军 ;

孙子杰 ;

刘佳琳 .

中国专利 :CN113514026B ,2021-10-19

[8]

一种复杂光照试验环境下的位移测量系统及测量方法 [P].

高林 ;

沈继彬 ;

王志武 ;

程铭 .

中国专利 :CN117804350A ,2024-04-02

[9]

复合材料构件变形测量装置及测量系统和测量方法 [P].

孙宝龙 ;

王晓宇 ;

薛闯 ;

杨勋 .

中国专利 :CN118670338A ,2024-09-20

[10]

一种液压支架高压环境下变形测量系统及测量方法 [P].

赵铁军 ;

李晓丽 ;

陈建忠 ;

王伯勋 ;

周燕飞 ;

康远宁 .

中国专利 :CN119756214A ,2025-04-04

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