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基于三坐标机的高低温环境下构件变形测量系统及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110600689.1
申请日
:
2021-05-31
公开(公告)号
:
CN113514026B
公开(公告)日
:
2021-10-19
发明(设计)人
:
唐小军
孙子杰
刘佳琳
申请人
:
申请人地址
:
100190 北京市海淀区知春路63号
IPC主分类号
:
G01B2132
IPC分类号
:
G01B2100
代理机构
:
中国航天科技专利中心 11009
代理人
:
李晶尧
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-02-03
授权
授权
2021-11-05
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/32 申请日:20210531
2021-10-19
公开
公开
共 50 条
[1]
真空环境下构件热变形测量系统及其测量方法
[P].
顾志悦
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顾志悦
;
张红英
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张红英
;
蓝增瑞
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蓝增瑞
.
中国专利
:CN105122968B
,2013-01-02
[2]
相机和灯的高低温保护装置及双目变形测量系统
[P].
许炳贤
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机构:
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
许炳贤
;
叶颖
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机构:
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
叶颖
;
吕良
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机构:
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
吕良
;
孙玉泉
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机构:
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
孙玉泉
;
张奕
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机构:
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
张奕
;
孙利
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机构:
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
延锋彼欧汽车外饰系统有限公司
孙利
.
中国专利
:CN117761952A
,2024-03-26
[3]
真空低温环境下的天线变形摄影测量系统
[P].
杨林华
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杨林华
;
蒋山平
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蒋山平
;
于江
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于江
;
向艳红
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向艳红
;
李竑松
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李竑松
;
丁文静
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丁文静
.
中国专利
:CN201819671U
,2011-05-04
[4]
一种高低温环境变形测量装置、方法
[P].
张鹏程
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
张鹏程
;
戚晶磊
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
戚晶磊
;
胡宁宁
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
胡宁宁
;
方远远
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
方远远
;
王宵
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
王宵
;
刘东坤
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
刘东坤
;
李熹
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
李熹
;
傅峰
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
傅峰
;
郑依铭
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
郑依铭
;
杨洁钦
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
杨洁钦
.
中国专利
:CN118913061A
,2024-11-08
[5]
高低温环境下精确测量弯刚度的装置
[P].
谢毅
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谢毅
.
中国专利
:CN103471834A
,2013-12-25
[6]
一种基于摄影测量的高低温环境微变形测试方法
[P].
刘博学
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刘博学
;
柏宏武
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柏宏武
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李冬
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李冬
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蒲理华
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蒲理华
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兰亚鹏
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兰亚鹏
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姜蕊玲
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姜蕊玲
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陈菲
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陈菲
.
中国专利
:CN107883855A
,2018-04-06
[7]
高低温环境下精确测量抗弯刚度的装置
[P].
谢毅
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谢毅
.
中国专利
:CN203606113U
,2014-05-21
[8]
一种热真空高低温环境下结构微变形测量方法
[P].
杨凤龙
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杨凤龙
;
朱续胜
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朱续胜
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回天力
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回天力
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刘战捷
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刘战捷
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黎昱
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黎昱
.
中国专利
:CN106767478B
,2017-05-31
[9]
高低温环境下的端面位姿相对变化高精度测量方法和系统
[P].
唐小军
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唐小军
;
孙子杰
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孙子杰
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中国专利
:CN113513978A
,2021-10-19
[10]
真空低温环境下的热变形测量方法
[P].
蒋山平
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蒋山平
;
杨林华
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杨林华
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张博伦
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张博伦
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张鹏嵩
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张鹏嵩
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王丹艺
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王丹艺
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向艳红
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向艳红
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李竑松
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李竑松
.
中国专利
:CN106091966B
,2016-11-09
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