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一种基于摄影测量的高低温环境微变形测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201710983817.9
申请日
:
2017-10-20
公开(公告)号
:
CN107883855A
公开(公告)日
:
2018-04-06
发明(设计)人
:
刘博学
柏宏武
李冬
蒲理华
兰亚鹏
姜蕊玲
陈菲
申请人
:
申请人地址
:
710100 陕西省西安市长安区西街150号
IPC主分类号
:
G01B530
IPC分类号
:
G01B1116
代理机构
:
中国航天科技专利中心 11009
代理人
:
臧春喜
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-03-24
授权
授权
2018-04-06
公开
公开
2018-05-01
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 5/30 申请日:20171020
共 50 条
[1]
一种高低温环境变形测量装置、方法
[P].
张鹏程
论文数:
0
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
张鹏程
;
戚晶磊
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
戚晶磊
;
胡宁宁
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
胡宁宁
;
方远远
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
方远远
;
王宵
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
王宵
;
刘东坤
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
刘东坤
;
李熹
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
李熹
;
傅峰
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
傅峰
;
郑依铭
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
郑依铭
;
杨洁钦
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机构:
上海勘测设计研究院有限公司
上海勘测设计研究院有限公司
杨洁钦
.
中国专利
:CN118913061A
,2024-11-08
[2]
一种热真空高低温环境下结构微变形测量方法
[P].
杨凤龙
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杨凤龙
;
朱续胜
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朱续胜
;
回天力
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回天力
;
刘战捷
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刘战捷
;
黎昱
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黎昱
.
中国专利
:CN106767478B
,2017-05-31
[3]
一种高低温摄影测量系统
[P].
师小琦
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师小琦
;
李审修
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李审修
.
中国专利
:CN207215426U
,2018-04-10
[4]
一种高低温摄影测量系统
[P].
师小琦
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师小琦
;
李审修
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李审修
.
中国专利
:CN206974658U
,2018-02-06
[5]
高低温环境电磁兼容测试方法
[P].
胡醇
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胡醇
;
胡德霖
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胡德霖
;
杨支峰
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杨支峰
;
沈惊喜
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沈惊喜
;
丁卫营
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丁卫营
;
潘晓军
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潘晓军
;
陈仁治
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陈仁治
;
钱永江
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钱永江
.
中国专利
:CN114636879A
,2022-06-17
[6]
高低温环境电磁兼容测试方法
[P].
胡醇
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机构:
苏州电器科学研究院股份有限公司
苏州电器科学研究院股份有限公司
胡醇
;
胡德霖
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机构:
苏州电器科学研究院股份有限公司
苏州电器科学研究院股份有限公司
胡德霖
;
杨支峰
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机构:
苏州电器科学研究院股份有限公司
苏州电器科学研究院股份有限公司
杨支峰
;
沈惊喜
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苏州电器科学研究院股份有限公司
苏州电器科学研究院股份有限公司
沈惊喜
;
丁卫营
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机构:
苏州电器科学研究院股份有限公司
苏州电器科学研究院股份有限公司
丁卫营
;
潘晓军
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机构:
苏州电器科学研究院股份有限公司
苏州电器科学研究院股份有限公司
潘晓军
;
陈仁治
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机构:
苏州电器科学研究院股份有限公司
苏州电器科学研究院股份有限公司
陈仁治
;
钱永江
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机构:
苏州电器科学研究院股份有限公司
苏州电器科学研究院股份有限公司
钱永江
.
中国专利
:CN114636879B
,2025-12-05
[7]
一种用于高低温环境测试的工装
[P].
叶余兵
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叶余兵
;
胡晓青
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胡晓青
.
中国专利
:CN215894837U
,2022-02-22
[8]
基于三坐标机的高低温环境下构件变形测量系统及方法
[P].
唐小军
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唐小军
;
孙子杰
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孙子杰
;
刘佳琳
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刘佳琳
.
中国专利
:CN113514026B
,2021-10-19
[9]
高低温环境一体测试柜
[P].
张永超
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张永超
.
中国专利
:CN202837438U
,2013-03-27
[10]
一种能适应高低温环境的小变形轴
[P].
陈庐彪
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陈庐彪
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殷晶晶
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殷晶晶
;
黄琛
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黄琛
;
陈世炉
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陈世炉
;
付和平
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付和平
.
中国专利
:CN205780241U
,2016-12-07
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