一种表面发射率测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610453583.2

申请日：

2016-06-22

公开(公告)号：

CN105890773A

公开(公告)日：

2016-08-24

发明(设计)人：

于浩张志学张羽鹏薛秀生叶林葛俊锋桂康侯雷潘心正

申请人：

申请人地址：

110015 辽宁省沈阳市沈河区万莲路1号

IPC主分类号：

G01J500

IPC分类号：

代理机构：

北京航信高科知识产权代理事务所(普通合伙) 11526

代理人：

周良玉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-24	公开	公开
2017-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101714179132 IPC(主分类):G01J 5/00 专利申请号:2016104535832 申请日:20160622
2020-04-17	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J 5/00 申请公布日:20160824

共 50 条

[1]

材料表面发射率测量装置 [P].

赵雨晨 ;

张恒成 ;

沈福至 ;

黄子淳 ;

李来风 .

中国专利 :CN220568657U ,2024-03-08

[2]

材料表面发射率测量装置 [P].

赵雨晨 ;

张恒成 ;

沈福至 ;

黄子淳 ;

李来风 .

中国专利 :CN119354924A ,2025-01-24

[3]

表面发射率测量方法、系统、列车 [P].

张金煜 ;

窦晓亮 ;

战申 ;

李明洋 ;

谷朝健 .

中国专利 :CN120274890A ,2025-07-08

[4]

一种微波辐射计黑体发射率测量系统 [P].

岳增祥 ;

陈后财 ;

朱庆林 ;

刘萱 ;

海阿静 ;

吕正阳 .

中国专利 :CN217112132U ,2022-08-02

[5]

一种表面发射率测量装置 [P].

许铁军 ;

姚达毛 ;

韩乐 ;

田焜 ;

张斌 .

中国专利 :CN210719419U ,2020-06-09

[6]

一种红外热像仪测量物体表面发射率的方法 [P].

沈庆刚 ;

夏玉保 ;

夏飞云 .

中国专利 :CN106248214A ,2016-12-21

[7]

材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214A ,2024-05-07

[8]

材料发射率的测量系统及材料发射率的确定方法 [P].

张玖 ;

岳峰 ;

兰旭 ;

梅国晖 .

中国专利 :CN117990214B ,2025-05-13

[9]

一种微波辐射计黑体发射率测量系统及测量方法 [P].

岳增祥 ;

陈后财 ;

朱庆林 ;

刘萱 ;

海阿静 ;

吕正阳 .

中国专利 :CN113670950A ,2021-11-19

[10]

一种微波辐射计黑体发射率测量系统及测量方法 [P].

岳增祥 ;

陈后财 ;

朱庆林 ;

刘萱 ;

海阿静 ;

吕正阳 .

中国专利 :CN113670950B ,2025-04-22

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