一种微波辐射计黑体发射率测量系统及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110745444.8

申请日：

2021-06-30

公开(公告)号：

CN113670950A

公开(公告)日：

2021-11-19

发明(设计)人：

岳增祥陈后财朱庆林刘萱海阿静吕正阳

申请人：

申请人地址：

266107 山东省青岛市城阳区仙山东路36号

IPC主分类号：

G01N2200

IPC分类号：

G01V312 G01V1300

代理机构：

青岛博雅知识产权代理事务所(普通合伙) 37317

代理人：

封代臣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 22/00 申请日:20210630
2021-11-19	公开	公开

共 50 条

[1]

一种微波辐射计黑体发射率测量系统及测量方法 [P].

岳增祥 ;

陈后财 ;

朱庆林 ;

刘萱 ;

海阿静 ;

吕正阳 .

中国专利 :CN113670950B ,2025-04-22

[2]

一种微波辐射计黑体发射率测量系统 [P].

岳增祥 ;

陈后财 ;

朱庆林 ;

刘萱 ;

海阿静 ;

吕正阳 .

中国专利 :CN217112132U ,2022-08-02

[3]

一种微波黑体发射率测量装置及测量方法 [P].

李彬 ;

金铭 ;

王晓峰 .

中国专利 :CN108981922A ,2018-12-11

[4]

一种微波辐射计背瓣的测量装置及测量方法 [P].

杨建卫 ;

李晓峰 ;

姜涛 ;

郑兴明 ;

李雷 .

中国专利 :CN106443828B ,2017-02-22

[5]

基于双频天线的地基气象微波辐射计系统及测量方法 [P].

郎量 ;

桂良启 ;

陈柯 ;

金锋 ;

郭伟 ;

张祖荫 ;

田加胜 .

中国专利 :CN106405558B ,2017-02-15

[6]

一种表面发射率测量系统 [P].

于浩 ;

张志学 ;

张羽鹏 ;

薛秀生 ;

叶林 ;

葛俊锋 ;

桂康 ;

侯雷 ;

潘心正 .

中国专利 :CN105890773A ,2016-08-24

[7]

α粒子发射率测量方法 [P].

张战刚 ;

罗俊洋 ;

雷志锋 ;

黄云 ;

陈资文 ;

彭超 ;

何玉娟 ;

肖庆中 ;

李键坷 ;

路国光 .

中国专利 :CN113484894A ,2021-10-08

[8]

α粒子发射率测量方法 [P].

张战刚 ;

罗俊洋 ;

雷志锋 ;

黄云 ;

陈资文 ;

彭超 ;

何玉娟 ;

肖庆中 ;

李键坷 ;

路国光 .

中国专利 :CN113484894B ,2024-01-05

[9]

一种高精度腔体红外发射率测量系统及测量方法 [P].

徐骏 ;

刘刚 ;

周博 ;

曹康丽 ;

杨碧琦 ;

王惠芬 ;

李瑜婧 ;

潘阳阳 ;

高冬冬 ;

韩贺祥 ;

宋炳坷 ;

张丽新 .

中国专利 :CN111678608A ,2020-09-18

[10]

星载微波辐射计天线方向特性的测量方法及测量装置 [P].

张志清 ;

安大伟 ;

杨磊 ;

商建 ;

刘成保 ;

王静 .

中国专利 :CN112526227B ,2021-03-19

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