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一种微波黑体发射率测量装置及测量方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201810763057.5
申请日：
2018-07-12
公开(公告)号：
CN108981922A
公开(公告)日：
2018-12-11
发明(设计)人：
李彬 金铭 王晓峰
申请人：
申请人地址：
100190 北京市海淀区中关村南二条1号
IPC主分类号：
G01J500
IPC分类号：
代理机构：
北京方安思达知识产权代理有限公司 11472
代理人：
陈琳琳;王宇杨
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2020-02-18 授权 授权
2018-12-11 公开 公开
2019-01-04 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20180712
共 50 条
[1]
一种微波辐射计黑体发射率测量系统及测量方法 [P]. 
岳增祥 ;
陈后财 ;
朱庆林 ;
刘萱 ;
海阿静 ;
吕正阳 .
中国专利 :CN113670950A ,2021-11-19
[2]
一种微波辐射计黑体发射率测量系统及测量方法 [P]. 
岳增祥 ;
陈后财 ;
朱庆林 ;
刘萱 ;
海阿静 ;
吕正阳 .
中国专利 :CN113670950B ,2025-04-22
[3]
一种面源黑体发射率测量装置及方法 [P]. 
邱超 ;
王加朋 ;
王莹莹 ;
李建亮 ;
宋春晖 ;
杨树辉 .
中国专利 :CN120213234A ,2025-06-27
[4]
一种黑体绝对发射率的测量装置及方法 [P]. 
冯国进 ;
吴厚平 ;
林延东 .
中国专利 :CN108037095B ,2018-05-15
[5]
一种微波辐射计黑体发射率测量系统 [P]. 
岳增祥 ;
陈后财 ;
朱庆林 ;
刘萱 ;
海阿静 ;
吕正阳 .
中国专利 :CN217112132U ,2022-08-02
[6]
一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法 [P]. 
张学聪 ;
温悦 ;
蔡静 ;
张岚 ;
李丹 ;
高一凡 .
中国专利 :CN114509165B ,2024-04-19
[7]
一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法 [P]. 
张学聪 ;
温悦 ;
蔡静 ;
张岚 ;
李丹 ;
高一凡 .
中国专利 :CN114509165A ,2022-05-17
[8]
一种发射率的测量方法 [P]. 
李云红 ;
张恒 ;
马蓉 ;
贾利娜 .
中国专利 :CN105004754A ,2015-10-28
[9]
一种基于控制背景辐射的黑体发射率测量装置及方法 [P]. 
郝小鹏 ;
宋健 ;
原遵东 ;
刘曾林 ;
许敏 .
中国专利 :CN104833429A ,2015-08-12
[10]
一种快速切换式发射率测量装置及测量方法 [P]. 
李宁杰 ;
李贝贝 ;
刘瑞 ;
杨永键 ;
李向芹 ;
谢振超 ;
徐红新 ;
翁艺航 ;
姜丽菲 ;
钱志鹏 .
中国专利 :CN110044490A ,2019-07-23
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