半导体结构的形成方法以及掩膜版

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申请号
CN202011137109.1
申请日
2020-10-22
公开(公告)号
CN114388430A
公开(公告)日
2022-04-22
发明(设计)人
金吉松
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号
IPC主分类号
H01L21768
IPC分类号
代理机构
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327
代理人
高静
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体结构、形成方法以及掩膜版 [P]. 
王楠 .
中国专利 :CN114068558B ,2025-12-09
[2]
半导体结构、形成方法以及掩膜版 [P]. 
王楠 .
中国专利 :CN114068558A ,2022-02-18
[3]
掩膜版以及半导体结构的形成方法 [P]. 
游林 ;
张婉娟 ;
陈术 .
中国专利 :CN112946995A ,2021-06-11
[4]
掩膜版以及半导体结构的形成方法 [P]. 
游林 ;
张婉娟 ;
陈术 .
中国专利 :CN112946995B ,2024-10-25
[5]
掩膜版图形、掩膜版以及半导体结构的形成方法 [P]. 
王占雨 ;
舒强 ;
覃柳莎 ;
张迎春 .
中国专利 :CN113075856A ,2021-07-06
[6]
掩膜版图形、掩膜版以及半导体结构的形成方法 [P]. 
王占雨 ;
舒强 ;
覃柳莎 ;
张迎春 .
中国专利 :CN113075856B ,2024-06-18
[7]
半导体结构及其形成方法、以及掩膜版版图 [P]. 
金吉松 .
中国专利 :CN115602699A ,2023-01-13
[8]
半导体结构及其形成方法、以及掩膜版版图 [P]. 
金吉松 .
中国专利 :CN115566019A ,2023-01-03
[9]
掩膜版、半导体结构及其形成方法 [P]. 
范志远 .
中国专利 :CN115685666A ,2023-02-03
[10]
掩膜版、半导体结构及其形成方法 [P]. 
呼翔 .
中国专利 :CN114078751B ,2025-12-05