一种微处理器单粒子闩锁效应的测试方法及测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010088300.5

申请日：

2020-02-12

公开(公告)号：

CN111273163B

公开(公告)日：

2020-06-12

发明(设计)人：

池雅庆梁斌陈建军郭阳袁珩洲刘必慰宋睿强吴振宇

申请人：

申请人地址：

410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008

代理人：

周长清

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-12	公开	公开
2022-06-14	授权	授权
2020-07-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/303 申请日:20200212

共 50 条

[1]

一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统 [P].

池雅庆 ;

梁斌 ;

陈建军 ;

郭阳 ;

袁珩洲 ;

刘必慰 ;

宋睿强 ;

吴振宇 .

中国专利 :CN111639001A ,2020-09-08

[2]

微处理器单粒子翻转截面的测试方法 [P].

池雅庆 ;

梁斌 ;

陈建军 ;

孙永节 ;

郭阳 ;

陈书明 .

中国专利 :CN108491296A ,2018-09-04

[3]

EDAC加固微处理器单粒子翻转截面的测试方法 [P].

池雅庆 ;

梁斌 ;

陈建军 ;

袁珩洲 ;

罗登 ;

郭阳 ;

胡春媚 ;

刘必慰 ;

宋睿强 ;

吴振宇 .

中国专利 :CN114968685B ,2024-07-26

[4]

一种用于CMOS图像传感器单粒子闩锁效应测试方法 [P].

郭旗 ;

蔡毓龙 ;

李豫东 ;

文林 ;

周东 ;

冯婕 ;

张翔 ;

刘炳凯 ;

傅婧 .

中国专利 :CN110361618A ,2019-10-22

[5]

一种基于内置温度监测器的FPGA单粒子闩锁效应测试系统及方法 [P].

朱志强 ;

李学武 ;

陈雷 ;

刘怀锋 ;

杨泽宇 ;

刘映光 .

中国专利 :CN112557885A ,2021-03-26

[6]

抗闩锁效应微处理器复位电路 [P].

侯立功 ;

刘全胜 ;

陈天娥 ;

吴伟 ;

肖颖 ;

侯正昌 ;

陆秋俊 ;

王欣 .

中国专利 :CN104503559A ,2015-04-08

[7]

微处理器内嵌SRAM多位异向单粒子翻转的测试方法及系统 [P].

张梅梅 ;

于立新 ;

庄伟 ;

彭和平 ;

侯国伟 ;

杨雪 .

中国专利 :CN107886990A ,2018-04-06

[8]

一种单粒子效应测试方法及测试系统 [P].

张弛 ;

陈朝晖 ;

刘玮 ;

丁晓兵 ;

余江 ;

徐鹏 ;

田得良 ;

郑茂然 ;

陆明 ;

张静伟 ;

陈旭 ;

刘千宽 ;

李捷 ;

甘卿忠 ;

黄智华 .

中国专利 :CN117420417A ,2024-01-19

[9]

一种处理器单粒子效应的频率响应的测试系统及方法 [P].

张科营 ;

罗尹虹 ;

郭红霞 ;

姚志斌 ;

郭晓强 ;

张凤祁 ;

王园明 ;

王忠明 ;

闫逸华 ;

丁李丽 ;

赵雯 ;

王燕萍 .

中国专利 :CN103018659A ,2013-04-03

[10]

一种CMOS反相器单粒子闩锁效应仿真方法 [P].

孟洋 ;

吕贺 ;

曹荣幸 ;

薛玉雄 ;

梅博 ;

张洪伟 ;

刘洋 ;

郑澍 ;

李红霞 ;

韩丹 ;

曾祥华 ;

李兴冀 ;

杨剑群 .

中国专利 :CN114692535A ,2022-07-01

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