一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010457544.6

申请日：

2020-05-26

公开(公告)号：

CN111639001A

公开(公告)日：

2020-09-08

发明(设计)人：

池雅庆梁斌陈建军郭阳袁珩洲刘必慰宋睿强吴振宇

申请人：

申请人地址：

410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F11273

代理机构：

湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008

代理人：

周长清

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-08	公开	公开
2020-10-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20200526

共 50 条

[1]

一种微处理器单粒子闩锁效应的测试方法及测试系统 [P].

池雅庆 ;

梁斌 ;

陈建军 ;

郭阳 ;

袁珩洲 ;

刘必慰 ;

宋睿强 ;

吴振宇 .

中国专利 :CN111273163B ,2020-06-12

[2]

一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统及其测试方法 [P].

薛海卫 ;

雷志军 .

中国专利 :CN114328053A ,2022-04-12

[3]

一种系统级封装瞬时剂量率效应的硬件测试系统及方法 [P].

李俊霖 ;

李洋 ;

郭亚鑫 ;

贺朝会 ;

陈伟 ;

李瑞宾 ;

李维 ;

刘炜剑 .

中国专利 :CN118275860A ,2024-07-02

[4]

结合全地址和单地址的SRAM瞬时剂量率效应测试系统及方法 [P].

齐超 ;

郭晓强 ;

林东生 ;

王桂珍 ;

陈伟 ;

扬善潮 ;

李瑞宾 ;

白小燕 .

中国专利 :CN104051026A ,2014-09-17

[5]

一种模块级电路瞬时剂量率效应仿真测试方法 [P].

赵元富 ;

于春青 ;

李同德 ;

王亮 ;

郑宏超 ;

岳素格 ;

李哲 ;

彭惠薪 ;

张雪 ;

毕潇 ;

朱永钦 ;

武永俊 ;

徐雷霈 ;

张健鹏 ;

张栩燊 .

中国专利 :CN112036110A ,2020-12-04

[6]

一种模块级电路瞬时剂量率效应仿真测试方法 [P].

赵元富 ;

于春青 ;

李同德 ;

王亮 ;

郑宏超 ;

岳素格 ;

李哲 ;

彭惠薪 ;

张雪 ;

毕潇 ;

朱永钦 ;

武永俊 ;

徐雷霈 ;

张健鹏 ;

张栩燊 .

中国专利 :CN112036110B ,2024-04-12

[7]

多片隔离式SRAM瞬时剂量率效应在线测试系统 [P].

李俊霖 ;

齐超 ;

陈伟 ;

李瑞宾 ;

杨善潮 .

中国专利 :CN108766502A ,2018-11-06

[8]

微处理器的测试方法及测试装置 [P].

李岱峰 ;

王丽一 ;

唐大国 ;

漆锋滨 ;

王俊 .

中国专利 :CN102567169A ,2012-07-11

[9]

一种图像传感器瞬时剂量率效应仿真评估方法 [P].

李培 ;

彭治钢 ;

董志勇 ;

贺朝会 .

中国专利 :CN118153503A ,2024-06-07

[10]

微处理器的随机测试方法 [P].

白宁 ;

徐云秀 ;

印义言 .

中国专利 :CN1567209A ,2005-01-19

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