一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统及其测试方法

被引：0

申请号：

CN202111640214.1

申请日：

2021-12-29

公开(公告)号：

CN114328053A

公开(公告)日：

2022-04-12

发明(设计)人：

薛海卫雷志军

申请人：

申请人地址：

214000 江苏省无锡市滨湖区惠河路5号

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F1126 G01T129

代理机构：

无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340

代理人：

杨强;杨立秋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20211229
2022-04-12	公开	公开

共 50 条

[1]

一种微处理器瞬时剂量率闩锁效应的测试方法及测试系统 [P].

池雅庆 ;

梁斌 ;

陈建军 ;

郭阳 ;

袁珩洲 ;

刘必慰 ;

宋睿强 ;

吴振宇 .

中国专利 :CN111639001A ,2020-09-08

[2]

微处理器的随机测试方法 [P].

白宁 ;

徐云秀 ;

印义言 .

中国专利 :CN1567209A ,2005-01-19

[3]

微处理器及其所适用的测试方法 [P].

G·葛兰·亨利 ;

泰瑞·派克斯 .

中国专利 :CN101930391B ,2010-12-29

[4]

一种微处理器单粒子闩锁效应的测试方法及测试系统 [P].

池雅庆 ;

梁斌 ;

陈建军 ;

郭阳 ;

袁珩洲 ;

刘必慰 ;

宋睿强 ;

吴振宇 .

中国专利 :CN111273163B ,2020-06-12

[5]

微处理器及其所适用的测试方法 [P].

G.葛兰.亨利 ;

泰瑞.派克斯 .

中国专利 :CN103123597A ,2013-05-29

[6]

微处理器的测试方法及测试装置 [P].

李岱峰 ;

王丽一 ;

唐大国 ;

漆锋滨 ;

王俊 .

中国专利 :CN102567169A ,2012-07-11

[7]

一种微位移测试系统用微处理器外围电路 [P].

李荣正 ;

戴国银 ;

李慧妍 .

中国专利 :CN105487954A ,2016-04-13

[8]

微处理器插座的测试模块 [P].

陈建霖 ;

沈鸿德 .

中国专利 :CN2545632Y ,2003-04-16

[9]

微处理器单粒子翻转截面的测试方法 [P].

池雅庆 ;

梁斌 ;

陈建军 ;

孙永节 ;

郭阳 ;

陈书明 .

中国专利 :CN108491296A ,2018-09-04

[10]

实时在线γ、电子吸收剂量率测试系统 [P].

杨桂霞 ;

李晓燕 ;

付澜 .

中国专利 :CN104793228A ,2015-07-22

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