芯片外观的检测方法及装置、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010248123.2

申请日：

2020-04-02

公开(公告)号：

CN111429444A

公开(公告)日：

2020-07-17

发明(设计)人：

周荣欣张省委于长强徐众孟小路

申请人：

申请人地址：

215100 江苏省苏州市吴中区木渎镇木东路15号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T711 G06T7136 G06K934 G06K962

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

李飞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-11	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20200402
2020-07-17	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片外观的检测方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

周荣欣 ;

张省委 ;

于长强 ;

徐众 ;

孟小路 .

中国专利 :CN111429444B ,2024-03-26

[2]

芯片检测方法、装置、电子设备、芯片和存储介质 [P].

谢蒙 .

中国专利 :CN121208586A ,2025-12-26

[3]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031B ,2024-10-29

[4]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031A ,2024-07-12

[5]

产品外观检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

彭博 ;

王勇 ;

葛永杰 ;

孙智宇 ;

谭颖聪 ;

庄瑞炎 .

中国专利 :CN117491368A ,2024-02-02

[6]

芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

石雪梅 ;

陈波 ;

赵毅强 ;

何家骥 ;

张虹 ;

林冰馨 ;

黄周晨 .

中国专利 :CN118707290B ,2025-11-18

[7]

芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

周志敏 ;

黄燕青 .

中国专利 :CN120220779A ,2025-06-27

[8]

芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

石雪梅 ;

陈波 ;

赵毅强 ;

何家骥 ;

张虹 ;

林冰馨 ;

黄周晨 .

中国专利 :CN118707290A ,2024-09-27

[9]

芯片检测方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118691611B ,2024-12-17

[10]

芯片检测方法、电子设备及存储介质 [P].

石圣涛 ;

蒋贵和 ;

王巧彬 .

中国专利 :CN112881419B ,2024-01-30

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