外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410764896.4

申请日：

2024-06-14

公开(公告)号：

CN118334031B

公开(公告)日：

2024-10-29

发明(设计)人：

许梓堆吴泳林刘枢吕江波沈小勇

申请人：

深圳思谋信息科技有限公司

申请人地址：

518051 广东省深圳市前海深港合作区南山街道前海大道前海嘉里商务中心四期T2写字楼2201A

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T3/02

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

陈金忠

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-29	授权	授权
2024-07-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240614
2024-07-12	公开	公开

共 50 条

[1]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031A ,2024-07-12

[2]

产品外观缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

李宛真 ;

郭锦斌 .

中国专利 :CN116433559B ,2025-07-25

[3]

器件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

田松 ;

董其波 .

中国专利 :CN117853427A ,2024-04-09

[4]

铸件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄雪峰 ;

熊海飞 ;

黄世鸿 .

中国专利 :CN120182249A ,2025-06-20

[5]

产品外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

周红强 ;

王元芹 ;

刘勇波 ;

张鹏晓 .

中国专利 :CN118967616A ,2024-11-15

[6]

铸件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄雪峰 ;

熊海飞 ;

黄世鸿 .

中国专利 :CN120182249B ,2025-07-29

[7]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

[8]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[9]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

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