产品外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411028396.0

申请日：

2024-07-29

公开(公告)号：

CN118967616A

公开(公告)日：

2024-11-15

发明(设计)人：

周红强王元芹刘勇波张鹏晓

申请人：

歌尔科技有限公司

申请人地址：

266104 山东省青岛市崂山区松岭路500号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/75 G06V10/74 G06V10/82 G06V10/44

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

晏波

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

山东省青岛市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240729
2024-11-15	公开	公开

共 50 条

[1]

产品外观缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

李宛真 ;

郭锦斌 .

中国专利 :CN116433559B ,2025-07-25

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质及产品 [P].

宋祥祥 ;

孙军 ;

杨德志 ;

皮富涛 .

中国专利 :CN118552498A ,2024-08-27

[3]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031B ,2024-10-29

[4]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031A ,2024-07-12

[5]

物品的外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

白辉 ;

董伟轩 ;

广兴祥 ;

邱锋 ;

李华娇 .

中国专利 :CN116908185B ,2025-03-21

[6]

产品外观检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

彭博 ;

王勇 ;

葛永杰 ;

孙智宇 ;

谭颖聪 ;

庄瑞炎 .

中国专利 :CN117491368A ,2024-02-02

[7]

器件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

田松 ;

董其波 .

中国专利 :CN117853427A ,2024-04-09

[8]

铸件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄雪峰 ;

熊海飞 ;

黄世鸿 .

中国专利 :CN120182249A ,2025-06-20

[9]

铸件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄雪峰 ;

熊海飞 ;

黄世鸿 .

中国专利 :CN120182249B ,2025-07-29

[10]

注塑件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王水亮 ;

陈浩林 ;

李国林 ;

孙通 ;

吴晓飞 ;

郭思谊 ;

颜润明 ;

吕汉平 .

中国专利 :CN118096751B ,2024-08-27

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