铸件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510631397.2

申请日：

2025-05-16

公开(公告)号：

CN120182249B

公开(公告)日：

2025-07-29

发明(设计)人：

黄雪峰熊海飞黄世鸿

申请人：

深圳市信润富联数字科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市罗湖区桂园街道老围社区深南东路5016号蔡屋围京基一百大厦A座2001-06

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/26 G06V10/80 G06V10/764 G06V10/774 G06V10/82 G06N3/0464

代理机构：

深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481

代理人：

李杏娟

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

引用

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共 50 条

[1]

铸件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄雪峰 ;

熊海飞 ;

黄世鸿 .

中国专利 :CN120182249A ,2025-06-20

[2]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031B ,2024-10-29

[3]

外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许梓堆 ;

吴泳林 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118334031A ,2024-07-12

[4]

器件外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

田松 ;

董其波 .

中国专利 :CN117853427A ,2024-04-09

[5]

产品外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

周红强 ;

王元芹 ;

刘勇波 ;

张鹏晓 .

中国专利 :CN118967616A ,2024-11-15

[6]

产品外观缺陷检测方法、电子设备及存储介质 [P].

李宛真 ;

郭锦斌 .

中国专利 :CN116433559B ,2025-07-25

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陈诗伟 ;

孙新 .

中国专利 :CN117853425A ,2024-04-09

[8]

物品的外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

白辉 ;

董伟轩 ;

广兴祥 ;

邱锋 ;

李华娇 .

中国专利 :CN116908185B ,2025-03-21

[9]

一种外观缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

徐明亮 ;

姜晓恒 ;

谷宁波 ;

张云霞 ;

卢洋 ;

贺硕 ;

张文杰 .

中国专利 :CN115439446A ,2022-12-06

[10]

一种外观缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

冉祥 ;

张宇 ;

陈小川 ;

刘欣冉 ;

邓志伟 .

中国专利 :CN116777859B ,2024-08-30

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-20	公开	公开
2025-07-29	授权	授权
2025-07-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250516